ZH
EN
ES
Линейный времяпролетный масс-спектрометр
Линейный времяпролетный масс-спектрометр, Всего: 16 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Линейный времяпролетный масс-спектрометр, являются: Аналитическая химия, Лабораторная медицина, Защита окружающей среды.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Линейный времяпролетный масс-спектрометр
- JJF 1528-2015 Спецификация калибровки времяпролетных масс-спектрометров
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Линейный времяпролетный масс-спектрометр
- GB/T 37849-2019 Метод проверки работоспособности жидкостной хроматографии с тандемной времяпролетной масс-спектрометрией
- GB/T 40129-2021 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
国家药监局, Линейный времяпролетный масс-спектрометр
- YY/T 1740.2-2021 Медицинская масс-спектрометрия. Часть 2. Времяпролетная масс-спектрометрия с матричной лазерной десорбцией и ионизацией.
International Organization for Standardization (ISO), Линейный времяпролетный масс-спектрометр
- ISO 13084:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
- ISO 13084:2011 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс для времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов.
- ISO 178:1975 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
- ISO 17862:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
- ISO 178:2019 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
- ISO 17862:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Линейный времяпролетный масс-спектрометр
- JIS K 0155:2018 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в пролетных масс-анализаторах с подсчетом одиночных ионов.
British Standards Institution (BSI), Линейный времяпролетный масс-спектрометр
- BS ISO 17862:2022 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов
- BS ISO 13084:2018 Отслеживаемые изменения. Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Калибровка шкалы масс времяпролетного масс-спектрометра вторичных ионов
- 20/30409963 DC BS ISO 17862. Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов
- BS ISO 17862:2013 Химический анализ поверхности. Масс-спектрометрия вторичных ионов. Линейность шкалы интенсивности в времяпролетных масс-анализаторах со счетом одиночных ионов
Group Standards of the People's Republic of China, Линейный времяпролетный масс-спектрометр
- T/CAEPI 28-2020 Технические требования к системе оперативного детектирования времяпролетной масс-спектрометрии с лазерной ионизацией диоксина в дымовых газах сжигания бытовых отходов