ZH

EN

ES

Как измерить мутность пленки

Как измерить мутность пленки, Всего: 70 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Как измерить мутность пленки, являются: Продукция текстильной промышленности, Фотография, Резиновые и пластмассовые изделия, Нерудные полезные ископаемые, Линейные и угловые измерения, Строительные материалы, Краски и лаки, Оптика и оптические измерения, Обработка поверхности и покрытие, Оборудование непрерывного действия, Производственные процессы в резиновой и пластмассовой промышленности, Неразрушающий контроль, Полупроводниковые материалы, Проведение материалов, Аналитическая химия, Электричество. Магнетизм. Электрические и магнитные измерения.


Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Как измерить мутность пленки

  • KS K 0795-2006 Метод испытания угла спирали в изделиях простого трикотажа.
  • KS C IEC 61006-2008(2013) Электроизоляционные материалы. Методы испытаний для определения температуры стеклования.
  • KS M ISO 5989:2002 Фотография-Расфасованные химикаты для обработки фотоматериалов на основе галогенида серебра-Словарь
  • KS F 2234-2004(2014) Метод измерения массы на единицу объема (плотности) и массы на единицу площади поверхности полистирольных композитных древесноволокнистых цементных плит.
  • KS M 3859-1990(2000) ОПРЕДЕЛЕНИЕ ЧУВСТВИТЕЛЬНОСТИ ISO ЦВЕТНЫХ КАМЕРНЫХ ПЛЕНОК ДЛЯ ФОТОФОТОГРАФИИ И КИНОФОТОГРАФИИ ПРЯМОЙ ПРОЕКЦИИ
  • KS M ISO 4591:2007 Пластмассы. Пленка и листовой материал. Определение средней толщины образца, средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина).
  • KS M ISO 4591-2007(2022) Пластмассы – Пленка и листовой материал – Определение средней толщины образца, а также средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина)
  • KS M ISO 4591-2007(2017) Пластмассы – Пленка и листовой материал – Определение средней толщины образца, а также средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина)
  • KS M ISO 283-1:2011 Текстильные конвейерные ленты. Испытание на растяжение по всей толщине. Часть 1. Определение прочности на разрыв, удлинения при разрыве и удлинения при эталонной нагрузке.
  • KS M ISO 283-1:2007 Текстильные конвейерные ленты. Испытание на растяжение по всей толщине. Часть 1. Определение прочности на разрыв, удлинения при разрыве и удлинения при эталонной нагрузке.

CO-ICONTEC, Как измерить мутность пленки

  • ICONTEC 1546-1980 Пластик, измерение ширины пленки
  • ICONTEC 3304-1992 пластик. Измерение яркости пластиковых пленок

International Organization for Standardization (ISO), Как измерить мутность пленки

  • ISO 15989:2004 Пластмассы. Пленка и листовой материал. Измерение угла контакта с водой пленок, обработанных коронным разрядом.
  • ISO 4591:1992 пластмассы; пленка и листы; определение средней толщины образца, средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина)
  • ISO 4591:1979 Пластмассы. Пленка и листовой материал. Определение средней толщины образца, средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина).

(U.S.) Ford Automotive Standards, Как измерить мутность пленки

British Standards Institution (BSI), Как измерить мутность пленки

  • BS 5806:1979 Метод измерения толщины блоков слюды, тонких пленок и сколов.
  • BS IEC 62899-503-3:2021 Печатная электроника. Оценка качества. Метод измерения контактного сопротивления печатного тонкопленочного транзистора. Метод длины переноса
  • PD IEC TS 62607-5-3:2020 Нанопроизводство. Ключевые характеристики управления. Тонкопленочные органические/наноэлектронные устройства. Измерения концентрации носителей заряда
  • BS EN 15042-1:2006 Измерение толщины покрытий и характеристика поверхностей поверхностными волнами - Руководство по определению упругих констант, плотности и толщины пленок лазерно-индуцированными поверхностными акустическими волнами
  • BS EN 61788-17:2013 Сверхпроводимость. Электронные характеристики измерения. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Как измерить мутность пленки

  • ASTM E252-05 Стандартный метод определения толщины тонкой фольги, листа и пленки путем измерения массы
  • ASTM E252-04 Стандартный метод измерения толщины тонкой фольги и пленки путем массового измерения
  • ASTM E252-06 Стандартный метод определения толщины фольги, тонкого листа и пленки путем измерения массы
  • ASTM E252-06(2013) Стандартный метод определения толщины фольги, тонкого листа и пленки путем измерения массы
  • ASTM E252-06(2021)e1 Стандартный метод определения толщины фольги, тонкого листа и пленки путем измерения массы
  • ASTM E2244-05 Стандартный метод испытаний для измерения длины тонких отражающих пленок в плоскости с использованием оптического интерферометра
  • ASTM E2244-11 Стандартный метод испытаний для измерения длины тонких отражающих пленок в плоскости с использованием оптического интерферометра
  • ASTM E2244-11(2018) Стандартный метод испытаний для измерения длины тонких отражающих пленок в плоскости с использованием оптического интерферометра
  • ASTM F692-97 Стандартный метод испытаний для измерения прочности адгезии паяемых пленок к подложкам
  • ASTM D5796-03 Стандартный метод испытаний для измерения толщины сухой пленки тонкопленочных систем с рулонным покрытием разрушающим способом с использованием сверлильного устройства
  • ASTM D5796-03(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины сухой пленки тонкопленочных систем с рулонным покрытием разрушающим способом с использованием сверлильного устройства
  • ASTM D5796-10 Стандартный метод испытаний для измерения толщины сухой пленки тонкопленочных систем с рулонным покрытием разрушающим способом с использованием сверлильного устройства
  • ASTM E2246-11(2018) Стандартный метод испытаний для измерения градиента деформации тонких отражающих пленок с использованием оптического интерферометра
  • ASTM E2246-02 Стандартный метод испытаний для измерения градиента деформации тонких отражающих пленок с использованием оптического интерферометра
  • ASTM E2246-05 Стандартный метод испытаний для измерения градиента деформации тонких отражающих пленок с использованием оптического интерферометра
  • ASTM E2244-02 Стандартный метод испытаний для измерения длины тонких отражающих пленок в плоскости с использованием оптического интерферометра
  • ASTM E2246-11 Стандартный метод испытаний для измерения градиента деформации тонких отражающих пленок с использованием оптического интерферометра
  • ASTM D5796-99 Стандартный метод испытаний для измерения толщины сухой пленки тонкопленочных систем с рулонным покрытием разрушающим способом с использованием сверлильного устройства
  • ASTM D5796-20 Стандартный метод испытаний для измерения толщины сухой пленки тонкопленочных систем с рулонным покрытием разрушающим способом с использованием сверлильного устройства
  • ASTM D5796-10(2015) Стандартный метод испытаний для измерения толщины сухой пленки тонкопленочных систем с рулонным покрытием разрушающим способом с использованием сверлильного устройства
  • ASTM E2244-11e1 Стандартный метод испытаний для измерения длины тонких отражающих пленок в плоскости с использованием оптического интерферометра
  • ASTM E2246-11e1 Стандартный метод испытаний для измерения градиента деформации тонких отражающих пленок с использованием оптического интерферометра
  • ASTM D5946-04 Стандартный метод испытаний полимерных пленок, обработанных коронным разрядом, с использованием измерения угла контакта с водой
  • ASTM D8331/D8331M-20 Стандартный метод испытаний для измерения толщины пленки тонкопленочных покрытий неразрушающими методами с использованием прочных оптических помех

Association Francaise de Normalisation, Как измерить мутность пленки

  • NF T30-122:1974 Краски. Определение толщины сухой пленки. Метод циферблатного манометра.
  • NF T30-121:1974 Краски. Определение толщины сухой пленки. Микрометрический метод.
  • FD T90-012:2021 Качество воды. Определение содержания металлов. Метод измерения концентрации металлов с пассивным отбором проб методом диффузионного градиента в тонких пленках.
  • NF EN 15042-1:2006 Измерение толщины покрытий и характеристика поверхностей с помощью поверхностных волн. Часть 1: руководство по определению упругих констант, плотности и толщины пленок с помощью волн...
  • NF EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17: измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках с большой поверхностью.

IN-BIS, Как измерить мутность пленки

  • IS 9044-1979 Методы измерения толщины слюдяных блоков, чешуек, пленок и слюдяных чешуек

RU-GOST R, Как измерить мутность пленки

  • GOST R 8.829-2013 Государственная система обеспечения единства измерений. Метод определения оптической плотности (коэффициента пропускания) и мутности полимерных пластин и пленок
  • GOST R 8.698-2010 Государственная система обеспечения единства измерений. Размерные параметры наночастиц и тонких пленок. Метод измерения с помощью дифрактометра малоуглового рентгеновского рассеяния.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Как измерить мутность пленки

  • GB/T 38518-2020 Измерение толщины покрытия на гибкой пленочной подложке
  • GB/T 20220-2006 Пластик.Пленка и листовой материал.Определение средней толщины образца, средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина)
  • GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
  • GB/T 22462-2008 Нано, субмикронная пленка на стали. Количественный анализ профиля глубины. Атомно-эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда.

Professional Standard - Chemical Industry, Как измерить мутность пленки

  • HG/T 2348-1992 Стилусный метод измерения шероховатости поверхности полиэфирной пленки для магнитной ленты

ZA-SANS, Как измерить мутность пленки

  • SANS 4591:2003 Пластмассы. Пленки и листы. Определение средней толщины образца, средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина).

KR-KS, Как измерить мутность пленки

  • KS M ISO 283-1-2007 Текстильные конвейерные ленты. Испытание на растяжение по всей толщине. Часть 1. Определение прочности на разрыв, удлинения при разрыве и удлинения при эталонной нагрузке.

HU-MSZT, Как измерить мутность пленки

  • MNOSZ 11726-1953 минеральные продукты. Измерение нарастания онемения точки методом пленочного термометра (поворотного).

RO-ASRO, Как измерить мутность пленки

  • SR ISO 4591:1996 Пластмассы. Пленки и листы. Определение средней толщины образца, средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина).

AENOR, Как измерить мутность пленки

  • UNE-ISO 4591:2010 Пластмассы. Пленка и листовой материал. Определение средней толщины образца, средней толщины и выхода рулона гравиметрическими методами (гравиметрическая толщина).
  • UNE-EN 15042-1:2007 Измерение толщины покрытий и характеристика поверхностей с помощью поверхностных волн. Часть 1. Руководство по определению упругих констант, плотности и толщины пленок с помощью лазерно-индуцированных поверхностных акустических волн.

German Institute for Standardization, Как измерить мутность пленки

  • PAS 1022-2004 Эталонная методика определения оптических и диэлектрических свойств материалов и толщины слоев тонких пленок методом эллипсометрии

International Electrotechnical Commission (IEC), Как измерить мутность пленки

  • IEC 62899-503-3:2021 Печатная электроника. Часть 503-3. Оценка качества. Метод измерения контактного сопротивления печатного тонкопленочного транзистора. Метод длины переноса.

Danish Standards Foundation, Как измерить мутность пленки

  • DS/EN 15042-1:2006 Измерение толщины покрытий и характеристика поверхностей с помощью поверхностных волн. Часть 1. Руководство по определению упругих констант, плотности и толщины пленок с помощью лазерно-индуцированных поверхностных акустических волн.
  • DS/EN IEC 61788-17:2021 Сверхпроводимость. Часть 17. Измерения электронных характеристик. Локальная критическая плотность тока и ее распределение в сверхпроводящих пленках большой площади.

Lithuanian Standards Office , Как измерить мутность пленки

  • LST EN 15042-1-2006 Измерение толщины покрытий и характеристика поверхностей с помощью поверхностных волн. Часть 1. Руководство по определению упругих констант, плотности и толщины пленок с помощью лазерно-индуцированных поверхностных акустических волн.

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Как измерить мутность пленки

  • GB/T 36053-2018 Оценка толщины, плотности и ширины границы раздела тонких пленок методом рентгеновской рефлектометрии. Требования к инструментам, выравнивание и позиционирование, сбор данных, анализ данных и отчетность.




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.