ZH
EN
ES
Метод подсчета чипов
Метод подсчета чипов, Всего: 25 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Метод подсчета чипов, являются: Резиновые и пластмассовые изделия, Испытание металлов, Строительные материалы, Интегральные схемы. Микроэлектроника, Изделия из железа и стали, Изоляционные материалы, Текстильные волокна, Услуги, Оптика и оптические измерения, Приложения для обработки изображений документов.
Professional Standard - Railway, Метод подсчета чипов
- TB/T 2328.16-1992 Метод определения игольчатого и чешуйчатого балласта железнодорожного щебня
Standard Association of Australia (SAA), Метод подсчета чипов
- AS 1141.15:1995 Методы отбора проб и испытаний агрегатов. Метод 15. Индекс рассыпчатости.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Метод подсчета чипов
- GB/T 10006-1988 Пластмассы. Пленки и листы. Определение коэффициентов трения.
- GB/T 30654-2014 Метод определения постоянной решетки эпитаксиальных слоев Ⅲ-нитрида
- GB/T 12636-1990 Метод полосковых испытаний комплексной диэлектрической проницаемости микроволновых диэлектрических подложек
- GB/T 28266-2012 Неразрушающий контроль оборудования под давлением. Аттестация систем оцифровки радиографических пленок.
- GB/T 20671.10-2006 Система классификации и методы испытаний неметаллических материалов прокладок. Часть 10: Стандартная практика оценки теплопроводности материалов прокладок.
Professional Standard - Agriculture, Метод подсчета чипов
- GB 10006-1988 Метод определения коэффициента трения пластиковых пленок и листов.
British Standards Institution (BSI), Метод подсчета чипов
- BS 812-105.1:1989 Тестирование агрегатов. Методы определения формы частиц. Индекс шелушащейся
- BS 812-105.1:1990 Тестирование агрегатов. Методы определения формы частиц. Индекс шелушащейся
- BS 5961:1980 Метод определения коэффициентов трения пластиковой пленки и листового материала, используемого в качестве электроизоляции.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Метод подсчета чипов
- KS M 3053-1990(2001) МЕТОД ИСПЫТАНИЯ СТАТИЧЕСКИХ И КИНЕТИЧЕСКИХ КОЭФФИЦИЕНТОВ ТРЕНИЯ ПЛАСТМАССОВЫХ ПЛЕНОК И ЛИСТОВ
- KS C IEC 60648-2014(2019) Метод испытания коэффициентов трения пластиковой пленки и листового материала, используемого в качестве электроизоляции.
Group Standards of the People's Republic of China, Метод подсчета чипов
- T/CIE 134-2022 Метод испытания времени хранения данных микросхемы магнитной оперативной памяти
American National Standards Institute (ANSI), Метод подсчета чипов
- ANSI/ASTM B114:2001 Метод определения констант температурной устойчивости листовых материалов для шунтов и прецизионных резисторов
American Society for Testing and Materials (ASTM), Метод подсчета чипов
- ASTM B114-90(2001) Стандартный метод испытаний констант температурной устойчивости листовых материалов для шунтов и прецизионных резисторов
- ASTM B114-90(1995)e1 Стандартный метод испытаний констант температурной устойчивости листовых материалов для шунтов и прецизионных резисторов
- ASTM E810-20 Стандартный метод испытания коэффициента световозвращения световозвращающего листового материала с использованием копланарной геометрии
RU-GOST R, Метод подсчета чипов
- GOST 27492-1987 Метод испытания коэффициентов трения пластиковой пленки и листового материала, используемого в качестве электроизоляции.
International Electrotechnical Commission (IEC), Метод подсчета чипов
- IEC TR 60648:1979 Метод испытания коэффициентов трения пластиковой пленки и листового материала, используемого в качестве электроизоляции.
AENOR, Метод подсчета чипов
- UNE 21376:1986 МЕТОД ИСПЫТАНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ТРЕНИЯ ПЛАСТМАССОВОЙ ПЛЕНКИ И ЛИСТА ДЛЯ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ В КАЧЕСТВЕ ЭЛЕКТРОИЗОЛЯЦИИ.
Professional Standard - Textile, Метод подсчета чипов
- FZ/T 50029-2015 Метод испытания огнезащитных свойств щепы из синтетического волокна. Метод кислородного индекса.
Association Francaise de Normalisation, Метод подсчета чипов
- NF C26-251:1980 Méthodes d'essai des matières isolantes - Метод измерения коэффициентов фроттмента пленок и пластиковых материалов, используемых в качестве электрических изоляторов.
- NF Z43-005:1984 Микрографика. Визуальная плотность микрофильмов. Метод измерения и значения.
Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Метод подсчета чипов
- DB32/T 4486-2023 Коэффициент уплотнения (m) и удельное давление (y), метод испытания на основе скорости утечки