ZH
EN
ES

Позитивные и инвертированные микроскопы

Позитивные и инвертированные микроскопы, Всего: 37 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Позитивные и инвертированные микроскопы, являются: Оптическое оборудование, Качество воды, Оптика и оптические измерения, Термодинамика и измерения температуры, Аналитическая химия.

British Standards Institution (BSI), Позитивные и инвертированные микроскопы

BS ISO 19012-2:2010 Оптика и фотоника. Обозначение объективов микроскопа. Хроматическая коррекция
BS ISO 19012-2:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Хроматическая коррекция
BS ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния визуализации, связанные с механическими базовыми плоскостями. Оптические системы с коррекцией на бесконечность
BS ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Способ определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов
BS ISO 9345-2:2003 Оптика и оптические инструменты. Микроскопы. Расстояния визуализации относительно механических плоскостей отсчета. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.

International Organization for Standardization (ISO), Позитивные и инвертированные микроскопы

ISO 19012-2:2013 Микроскопы. Обозначение объективов микроскопа. Часть 2. Хроматическая коррекция.
ISO 19012-2:2009 Оптика и фотоника. Назначение объективов микроскопа. Часть 2. Хроматическая коррекция.
ISO/CD 20263:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
ISO 9345-2:2014 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.
ISO 20263:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения положения границы раздела на изображении поперечного сечения слоистых материалов.
ISO 9345:2019 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

PL-PKN, Позитивные и инвертированные микроскопы

PN C05551-1987 Вода и сточные воды. Определение численности фитопланктона с помощью инвертированного микроскопа.

Professional Standard - Machinery, Позитивные и инвертированные микроскопы

JB/T 7398.11-1994 Микроскоп - Фазовоконтрастный прибор
JB/T 7398.8-1994 Микроскоп - Проектор
JB/T 7398.9-1994 Микроскоп - Рентгенографический комплекс
JB/T 7398.10-1994 Микроскоп - прибор темного поля
JB/T 8230.7-1999 Микроскопы. Размеры и расположение отверстий для зажимов предметного столика и прикрепляемого механического предметного столика на предметном столике микроскопа.

Association Francaise de Normalisation, Позитивные и инвертированные микроскопы

NF EN 15204:2006 Качество воды. Руководящий стандарт для подсчета фитопланктона методом инвертированной микроскопии (метод Утермоля)
NF ISO 4407:2002 Гидравлические трансмиссии. Загрязнение жидкостей. Определение загрязнения твердыми частицами путем подсчета под оптическим микроскопом.

Danish Standards Foundation, Позитивные и инвертированные микроскопы

DS/EN 15204:2006 Качество воды. Руководящие стандарты по подсчету фитопланктона с использованием инвертированной микроскопии (метод Утермоля)

Lithuanian Standards Office , Позитивные и инвертированные микроскопы

LST EN 15204-2007 Качество воды. Руководящие стандарты по подсчету фитопланктона с использованием инвертированной микроскопии (метод Утермоля)

German Institute for Standardization, Позитивные и инвертированные микроскопы

DIN EN 15204:2006-12 Качество воды – Руководящие стандарты по подсчету фитопланктона с использованием инвертированной микроскопии (метод Утермоля); Немецкая версия EN 15204:2006.

AENOR, Позитивные и инвертированные микроскопы

UNE-EN 15204:2007 Качество воды. Руководящие стандарты по подсчету фитопланктона с использованием инвертированной микроскопии (метод Uterm？hl)

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Позитивные и инвертированные микроскопы

JIS B 7158-2:2011 Обозначение объективов микроскопа. Часть 2. Хроматическая коррекция.
JIS B 7132-2:2009 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.
JIS B 7132-2:2022 Микроскопы. Расстояния отображения, связанные с механическими плоскостями отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Позитивные и инвертированные микроскопы

DB44/T 1529.2-2015 Обозначение объектива микроскопа. Часть 2. Коррекция хроматических аберраций

Defense Logistics Agency, Позитивные и инвертированные микроскопы

DLA GG-I-460 (1)-1952 ПРОСВЕТИТЕЛИ; МИКРОСКОП, 115 ВОЛЬТ
DLA GG-I-460-1952 ПРОСВЕТИТЕЛИ; МИКРОСКОП, 115 ВОЛЬТ

HU-MSZT, Позитивные и инвертированные микроскопы

MNOSZ 5535-1956 Подготовка микроскопа. Стол восстанавливающей пружины/положение пика.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Позитивные и инвертированные микроскопы

ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Позитивные и инвертированные микроскопы

T/QGCML 1940-2023

IPC - Association Connecting Electronics Industries, Позитивные и инвертированные микроскопы

IPC/JEDEC J-STD-035 CD-1999 Акустическая микроскопия негерметичных электронных компонентов в капсулах (включает поправку 1: январь 2007 г.)

Military Standards (MIL-STD), Позитивные и инвертированные микроскопы

DOD A-A-54222-1990 ВОДЯНАЯ БАНЯ, ЭЛЕКТРИЧЕСКАЯ (КРЕПЛЕНИЕ СЕКЦИИ ОБРАЗЦОВ ТКАНИ МИКРОТОМА)

Association of German Mechanical Engineers, Позитивные и инвертированные микроскопы

VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Оптическое измерение микротопографии. Калибровка конфокальных микроскопов и эталонов глубины для измерения шероховатости.

KR-KS, Позитивные и инвертированные микроскопы

KS B ISO 9345-2-2023 Микроскопы. Расстояния отображения относительно механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы, скорректированные на бесконечность.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Позитивные и инвертированные микроскопы

GB/T 22057.2-2008 Микроскопы. Расстояния отображения в зависимости от механических плоскостей отсчета. Часть 2. Оптические системы с коррекцией на бесконечность.