ZH
EN
ES
Калибровочные блоки для электронного микроскопа
Калибровочные блоки для электронного микроскопа, Всего: 76 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Калибровочные блоки для электронного микроскопа, являются: Метрология и измерения в целом, Оптическое оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Линейные и угловые измерения, Аналитическая химия, Электронные устройства отображения, Качество воздуха, Оптика и оптические измерения, Строительные материалы, Сырье для резины и пластмасс, Условия и процедуры испытаний в целом, Испытание металлов, Изделия из железа и стали, Краски и лаки, Медицинские науки и учреждения здравоохранения в целом.
National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)
Group Standards of the People's Republic of China, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
American Society for Testing and Materials (ASTM), Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2003) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-98(2008)e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14(2019) Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E766-14e1 Стандартная практика калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-97 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E986-04(2017) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2090-00 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, выделяющихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E2090-12 Стандартный метод испытаний для дифференцированного по размеру подсчета частиц и волокон, высвободившихся из салфеток для чистых помещений, с использованием оптической и сканирующей электронной микроскопии
- ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM C1723-16(2022) Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-10 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM C1723-16 Стандартное руководство по исследованию затвердевшего бетона с помощью сканирующей электронной микроскопии
- ASTM D3849-13 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM D3849-14 Стандартный метод определения технического углерода; Морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E986-04 Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D3849-95a(2000) Стандартный метод определения технического углерода: размеры первичного агрегата по данным анализа изображений, полученных с помощью электронного микроскопа
- ASTM D3849-07 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM E986-04(2010) Стандартная практика определения размера пучка сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D3849-22 Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
- ASTM E2530-06 Стандартная практика калибровки Z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием моноатомных ступеней Si(111)
- ASTM D5756-02(2008) Стандартный метод испытаний для микровакуумного отбора проб и непрямого анализа пыли с помощью просвечивающей электронной микроскопии для массовой поверхностной нагрузки асбеста
- ASTM D3849-02 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM D3849-04 Стандартный метод определения технического углерода: морфологическая характеристика технического углерода с использованием электронной микроскопии
- ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM E2142-08(2015) Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2142-08 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM D3849-14a Стандартный метод определения технического углерода — морфологическая характеристика технического углерода с помощью электронной микроскопии
- ASTM E2142-08(2023) Standard Test Methods for Rating and Classifying Inclusions in Steel Using the Scanning Electron Microscope
- ASTM D7201-06(2011) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)
- ASTM B748-90(2010) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E2809-13 Стандартное руководство по использованию сканирующей электронной микроскопии/рентгеновской спектрометрии при судебно-медицинской экспертизе красок
- ASTM B748-90(2021) Стандартный метод испытаний для измерения толщины металлических покрытий путем измерения поперечного сечения с помощью сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95(2001) Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
- ASTM E1588-08 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E1588-10 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия с помощью сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии
- ASTM E2142-01 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали с использованием сканирующего электронного микроскопа
- ASTM E1588-95 Стандартное руководство по анализу остатков огнестрельного оружия методами сканирующей электронной микроскопии/энергодисперсионной спектроскопии
Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- DB31/T 297-2003 Метод калибровки увеличения сканирующего электронного микроскопа
- DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- KS D ISO 16700:2013 Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16700-2013(2018) Микролучевой анализ－Сканирующая электронная микроскопия－Руководство по калибровке увеличения изображения
- KS D ISO 16592:2011 Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
- KS D ISO 16592-2011(2016) Микролучевой анализ－Электронно-зондовый микроанализ－Руководство по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
International Organization for Standardization (ISO), Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 16700:2016 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии потерь энергии электронов.
- ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 29301:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.
- ISO/FDIS 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 29301:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой.
- ISO 16592:2006 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой.
- ISO 16592:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой.
Association Francaise de Normalisation, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- NF X21-005:2006 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- NF X21-007:2008 Микролучевой анализ - Электронно-зондовый микроанализ - Рекомендации по определению содержания углерода в стали методом калибровочной кривой.
British Standards Institution (BSI), Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- BS ISO 16700:2004 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
- BS ISO 16700:2016 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения
- BS ISO 24639:2022 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- 21/30404763 DC BS ISO 24639. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Процедура калибровки энергетической шкалы для элементного анализа методом спектроскопии энергетических потерь электронов
- BS ISO 29301:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов с периодической структурой
- BS ISO 16592:2012 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях методом калибровочной кривой
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- JIS K 0149-1:2008 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
RU-GOST R, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- GOST R 8.636-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Сканирующие электронные микроскопы. Методы калибровки
- GOST R 8.635-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Атомно-силовые сканирующие зондовые микроскопы. Метод калибровки
German Institute for Standardization, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
- DIN ISO 16592:2015 Микролучевой анализ. Электронно-зондовый микроанализ. Рекомендации по определению содержания углерода в сталях с использованием метода калибровочной кривой (ISO 16592:2012)
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- GB/T 27760-2011 Метод испытаний для калибровки z-увеличения атомно-силового микроскопа на субнанометровых уровнях смещения с использованием одноатомных ступеней Si(111)
IT-UNI, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- UNI 7604-1976 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для микрофрактографического исследования.
- UNI 7329-1974 Исследование под электронным микроскопом металлических материалов методом реплик. Подготовка реплик для исследования микроструктуры.
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Калибровочные блоки для электронного микроскопа
- GB/T 34002-2017 Микролучевой анализ. Аналитическая трансмиссионная электронная микроскопия. Методы калибровки увеличения изображения с использованием эталонных материалов, имеющих периодическую структуру.