ZH
EN
ES
неионогенные мицеллы
неионогенные мицеллы, Всего: 9 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к неионогенные мицеллы, являются: Продукция химической промышленности.
BE-NBN, неионогенные мицеллы
- NBN T 63-129-1980 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, неионогенные мицеллы
- GB/T 11278-1989 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью кольца.
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), неионогенные мицеллы
- KS M ISO 4311-2003(2018) Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
- KS M ISO 4311:2003 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
Association Francaise de Normalisation, неионогенные мицеллы
- NF T73-411:1980 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
KR-KS, неионогенные мицеллы
- KS M ISO 4311-2003(2023) Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод путем измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, стремени или кольца.
TH-TISI, неионогенные мицеллы
- TIS 1765-1999 Анионные и неионогенные поверхностно-активные вещества. Определение критической концентрации мицеллообразования. Метод измерения поверхностного натяжения пластинкой, стремечкой или кольцом.
International Organization for Standardization (ISO), неионогенные мицеллы
- ISO 4311:1979 Анионогенные и неионогенные поверхностно-активные вещества; Определение критической концентрации мицеллообразования; Метод измерения поверхностного натяжения с помощью пластины, хомута или кольца.
AENOR, неионогенные мицеллы
- UNE 55700:1982 АКТИВНЫЕ ПОВЕРХНОСТНЫЕ ВЕЩЕСТВА. АНИОННЫЕ И НЕИОННЫЕ ПОВЕРХНОСТНО-АКТИВНЫЕ ВЕЩЕСТВА. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КРИТИЧЕСКОЙ КОНЦЕНТРАЦИИ МИЦЕЛЛИЗАЦИИ. МЕТОД ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОГО НАТЯЖЕНИЯ С ПОМОЩЬЮ ПЛАСТИНЫ, СТРЕМЯ ИЛИ КОЛЬЦА