ZH
EN
ES
Блок для испытаний на удар
Блок для испытаний на удар, Всего: 12 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Блок для испытаний на удар, являются: Испытание металлов, Солнечная энергетика, Резиновые и пластмассовые изделия.
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Блок для испытаний на удар
- JIS B 7740:1990 Стандартные образцы для машины для испытаний на удар по Шарпи
American Society of Mechanical Engineers (ASME), Блок для испытаний на удар
- ASME 2280-2001 Образцы для испытаний на удар по Шарпи для поковок SA-508 класса 4N, классов 1 и 2, раздел VIII, раздел 3 АННУЛИРОВАНЫ; ПОДАЧА 8 и 9
GM Daewoo, Блок для испытаний на удар
American Society for Testing and Materials (ASTM), Блок для испытаний на удар
- ASTM E2481-06 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических модулей на защиту от горячих точек
- ASTM E2481-12 Стандартный метод испытаний фотоэлектрических модулей на защиту от горячих точек
- ASTM D5628-10 Стандартный метод испытания ударопрочности плоских, жестких пластиковых образцов с помощью падающего дротика (тупа или падающей массы)
- ASTM D5628-07 Стандартный метод испытания ударопрочности плоских, жестких пластиковых образцов с помощью падающего дротика (тупа или падающей массы)
- ASTM D5628-06 Стандартный метод испытания ударопрочности плоских, жестких пластиковых образцов с помощью падающего дротика (тупа или падающей массы)
- ASTM D5628-96(2001)e1 Стандартный метод испытания ударопрочности плоских, жестких пластиковых образцов с помощью падающего дротика (тупа или падающей массы)
CENELEC - European Committee for Electrotechnical Standardization, Блок для испытаний на удар
- EN 61721:1999 Подверженность фотоэлектрического (PV) модуля случайному ударному повреждению (испытание на ударопрочность)
Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Блок для испытаний на удар
- KS C IEC 61721-2005(2015) Восприимчивость фотоэлектрического (PV) модуля к случайному повреждению при ударе (испытание на удар)
未注明发布机构, Блок для испытаний на удар
- DIN EN 61721:2000 Подверженность фотоэлектрического (PV) модуля случайному повреждению при ударе (испытание на удар)