фотоэлектрический спектр

фотоэлектрический спектр, Всего: 101 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к фотоэлектрический спектр, являются: Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Табак, табачные изделия и сопутствующее оборудование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Неразрушающий контроль, Ферросплавы, Цветные металлы, Обработка поверхности и покрытие, Солнечная энергетика, Лампы и сопутствующее оборудование, Испытание металлов, Черные металлы, Полупроводниковые приборы, Медицинское оборудование, Коррозия металлов, Изделия из железа и стали.

American Society for Testing and Materials (ASTM), фотоэлектрический спектр

ASTM E995-04 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E1217-11 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-00 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1217-05 Стандартная практика определения площади образца, вносящей вклад в детектируемый сигнал, в электронных оже-спектрометрах и некоторых рентгеновских фотоэлектронных спектрометрах
ASTM E1021-95(2001) Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ASTM E1021-95 Стандартные методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ASTM E2735-14 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии 40;XPS41; Эксперименты
ASTM E2735-13 Стандартное руководство по выбору калибровок, необходимых для экспериментов по рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии (XPS)
ASTM E902-05 Стандартная практика проверки рабочих характеристик рентгеновских фотоэлектронных спектрометров
ASTM E996-94(1999) Стандартная практика представления данных в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
ASTM E995-16 Стандартное руководство по методам вычитания фона в электронной оже-спектроскопии и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), фотоэлектрический спектр

KS D ISO 15472:2003 Химический анализ поверхности-Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры-Калибровка энергетических шкал
KS D ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности－Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия－Описание выбранных параметров работы прибора
KS D ISO 19318:2005 Химический анализ поверхности – рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия – отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
KS D 1682-2020 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического свинца
KS D 2518-2015 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического кадмия
KS D 2518-2015(2020) Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического кадмия
KS D 1650-1993 Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлических материалов
KS D 2518-2020 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического кадмия
KS D 1657-1981 Метод анализа фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлических материалов
KS D 1899-2019 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа электролитической катодной меди
KS D 1650-2008 Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлических материалов
KS D 1929-2019 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа цинковых сплавов, литых под давлением
KS D 1929-2004 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа цинковых сплавов, литых под давлением
KS D 1852-2015 Методы фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа алюминия и алюминиевых сплавов
KS D 1852-2020 Методы оптико-эмиссионного спектрохимического анализа алюминия и алюминиевых сплавов
KS D ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
KS D ISO 19272:2018 Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия в тлеющем разряде (рутинный метод)
KS D 1650-2008(2018) Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлических материалов

RU-GOST R, фотоэлектрический спектр

GOST 30038-1993 Табак и табачные изделия. Определение алкалоидов в табаке. Спектрофотометрический метод
GOST 17333-1980 Фотоэлектронные устройства. Методы измерения спектральной чувствительности фотокатодов
GOST R 55703-2013 Электрические источники света. Методы измерения спектральных и цветовых характеристик
GOST 27981.3-1988 Медь высокой чистоты. Метод эмиссионно-спектрального анализа с фотоэлектрической регистрацией спектра / Примечание: Заменить ГОСТ 31382 (2009).
GOST 9717.2-1982 Медь. Метод спектрального анализа металлических эталонов с фотографической регистрацией спектра

International Organization for Standardization (ISO), фотоэлектрический спектр

ISO 15470:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
ISO 19318:2004 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO 19318:2021 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
ISO 20903:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивностей пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра.
ISO/TR 18392:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы определения фона.
ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
ISO 18118:2004 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 18118:2015 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
ISO 16962:2017 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.
ISO 16962:2005 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.
ISO 11505:2012 Химический анализ поверхности. Общие процедуры количественного профилирования состава по глубине методом оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.

British Standards Institution (BSI), фотоэлектрический спектр

BS ISO 15470:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
BS ISO 15470:2017 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора
BS ISO 19318:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
BS ISO 18516:2006 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Определение латерального разрешения.
BS ISO 20903:2011 Химический анализ поверхности. Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Методы, используемые для определения интенсивности пиков, и информация, необходимая для представления результатов.
24/30478480 DC BS ISO 21456 Определение остаточного напряжения слоя TGO в термобарьерном покрытии методом фотовозбуждающей флуоресцентной пьезоэлектрической спектроскопии
BS ISO 16129:2012 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Процедуры оценки повседневной работы рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
BS ISO 18118:2005 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Руководство по использованию экспериментально определенных коэффициентов относительной чувствительности для количественного анализа однородных материалов.
BS ISO 24237:2005 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
BS ISO 16962:2017 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), фотоэлектрический спектр

JIS K 0162:2010 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
JIS H 1123:2021 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического свинца
JIS H 1123:1995 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического свинца
JIS H 1113:2022 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлического цинка
JIS H 1103:1995 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа электролитической катодной меди
JIS H 1560:2016 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа цинковых сплавов, литых под давлением
JIS T 0306:2002 Анализ состояния пассивной пленки, сформированной на металлических биоматериалах, методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии
JIS K 0150:2009 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптической эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.

GOSTR, фотоэлектрический спектр

GOST 9716.2-1979 Медно-цинковые сплавы. Метод спектрального анализа металлических эталонов с фотоэлектрической регистрацией спектра
GOST 9717.2-2018 Медь. Метод спектрального анализа по металлическим стандартным образцам с фотографической регистрацией спектра

Taiwan Provincial Standard of the People's Republic of China, фотоэлектрический спектр

CNS 10006-1984 Метод фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа железа и стали
CNS 9706-1984 Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа железа и стали
CNS 13921-1997 Метод атомно-эмиссионного спектрофотоэлектрического анализа литья под давлением цинкового сплава
CNS 10005-1984 Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектрохимического анализа металлических материалов
CNS 13805-1997 Метод измерения фотолюминесценции полупроводниковых пластин оптоэлектроники

Association Francaise de Normalisation, фотоэлектрический спектр

NF X21-061:2008 Химический анализ поверхности - Электронная оже-спектроскопия и рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия - Определение латерального разрешения.
NF C57-328*NF EN 60904-8:2014 Фотоэлектрические устройства. Часть 8. Измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (ФЭ) устройства.
NF C57-328:1999 Фотоэлектрические устройства. Часть 8: измерение спектральной характеристики фотоэлектрического (PV) устройства.
NF X21-053*NF ISO 14707:2006 Химический анализ поверхности. Оптическая эмиссионная спектрометрия тлеющего разряда (GD-OES). Введение в использование.

Professional Standard - Machinery, фотоэлектрический спектр

JB/T 5478-1991 Ручной сканирующий фотоэлектрический спектрометр прямого считывания

Professional Standard - Non-ferrous Metal, фотоэлектрический спектр

YS/T 631-2007 Методы анализа цинка. Оптическая эмиссионная спектрометрия.
YS/T 482-2005 Методы анализа меди и медных сплавов. Атомно-эмиссионная спектрометрия.
YS/T 1679-2023 Методы анализа олова и оловянных сплавов. Фотоэлектрическая спектроскопия прямого считывания.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, фотоэлектрический спектр

GB 5295-1985 Характеристический ряд спектрального отклика фотокатодов
GB/T 14203-1993 Общие правила фотоэлектроэмиссионного спектроскопического анализа железа, стали и сплавов
GB/T 26042-2010 Методы анализа цинка и цинковых сплавов. Оптическая эмиссионная спектрометрия.
GB/T 7999-2000 Стандартный метод прямого считывающего спектрометрического анализа алюминия и его сплавов

American National Standards Institute （ANSI), фотоэлектрический спектр

ANSI/ASTM E1021:1995 Методы испытаний для измерения спектрального отклика фотоэлектрических элементов
ANSI/ASTM E973M:1996 Метод испытаний для определения параметра спектрального несоответствия между фотоэлектрическим устройством и фотоэлектрическим эталонным элементом (метрическим)

Professional Standard - Commodity Inspection, фотоэлектрический спектр

SN/T 2785-2011 Фотоэлектроэмиссионный спектроскопический анализ цинка и его сплавов
SN/T 2786-2011 Фотоэлектроэмиссионный спектроскопический анализ магния и магниевых сплавов
SN/T 2260-2010 Определение химических соединений меди катодно-фотоэмиссионным спектроскопическим методом.
SN/T 2489-2010 Определение содержания Cr、Mn、P、Si в чугунах-метод фотоэлектрической эмиссионной спектроскопии

Standard Association of Australia （SAA）, фотоэлектрический спектр

AS ISO 15472:2006 Химический анализ поверхности - Рентгеновские фотоэлектронные спектрометры - Калибровка энергетических шкал
AS ISO 15470:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
AS ISO 19318:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Отчет о методах, используемых для контроля заряда и коррекции заряда.
AS ISO 24237:2006 Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.

International Electrotechnical Commission (IEC), фотоэлектрический спектр

IEC 60747-5-16:2023 Полупроводниковые приборы. Часть 5-16. Оптоэлектронные приборы. Светодиоды. Метод испытания плоскозонного напряжения светодиодов на основе GaN на основе спектроскопии фототока.

未注明发布机构, фотоэлектрический спектр

AS ISO 15470:2006(R2016) Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Описание выбранных параметров работы прибора.
AS ISO 24237:2006(R2016) Химический анализ поверхности. Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия. Повторяемость и постоянство шкалы интенсивности.
DIN ISO 16962 E:2018-06 Химический анализ поверхности. Анализ металлических покрытий на основе цинка и/или алюминия методом оптико-эмиссионной спектрометрии тлеющего разряда.

KR-KS, фотоэлектрический спектр

KS D ISO 19272-2018(2023) Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия в тлеющем разряде (рутинный метод)
KS D ISO 19272-2018 Низколегированная сталь. Определение C, Si, Mn, P, S, Cr, Ni, Al, Ti и Cu. Оптическая эмиссионная спектрометрия в тлеющем разряде (рутинный метод)

Professional Standard - Electron, фотоэлектрический спектр

SJ 2354.7-1983 Метод измерения кривой спектрального отклика и диапазона спектрального отклика PIN и лавинных фотодиодов