ZH

EN

ES

Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия, Всего: 104 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия, являются: Оптическое оборудование, Оптика и оптические измерения, Аналитическая химия, Метрология и измерения в целом, Образование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Испытание металлов, Обработка поверхности и покрытие, Технические рисунки, Продукция текстильной промышленности, Материалы для армирования композитов, Стекло, Сельское и лесное хозяйство, Физика. Химия, Качество воздуха, Астрономия. Геодезия. География, Защита от преступности, Системы дорожного транспорта, Пластмассы, Защитная экипировка.


General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
  • GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • GB/T 18873-2002 Общие характеристики просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) — количественный микроанализ рентгеновского энергодисперсионного спектра (ЭДС) для тонких биологических образцов.
  • GB/T 18873-2008 Общее руководство по трансмиссионному электронному микроскопу (ТЕМ) – рентгеновской энергодисперсионной спектрометрии (ЭДС) для количественного микроанализа тонких биологических образцов
  • GB/T 28044-2011(英文版) Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа
  • GB/T 17507-2008 Общая спецификация тонких биологических стандартов для рентгеновского ЭДС-микроанализа в просвечивающем электронном микроскопе
  • GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
  • GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
  • GB/T 28044-2011 Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ)
  • GB/T 42557-2023 Технические условия на защиту электромагнитной среды радиотелескопа
  • GB/T 42208-2022 Нанотехнологии — Измерение размера наночастиц в многофазной системе — Метод изображения просвечивающей электронной микроскопии.
  • GB/Z 21738-2008 Фундаментальные структуры одномерных наноматериалов. Характеристика просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения.
  • GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
  • GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
  • GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий

International Organization for Standardization (ISO), Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 21363:2020 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • ISO 13794:2019 Атмосферный воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
  • ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение содержания асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.

British Standards Institution (BSI), Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
  • BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
  • PD ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии. Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • 15/30292710 DC BS ISO 19214. Руководство по определению направления роста проволочных кристаллов методом просвечивающей электронной микроскопии.
  • BS ISO 13794:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом
  • BS ISO 10312:2019 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии
  • BS EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
  • BS ISO 21363:2020 Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии
  • PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
  • BS PD ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии. Реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии
  • 18/30351714 DC BS ISO 21363. Нанотехнологии. Измерения распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Machinery, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
  • JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
  • T/CNTAC 21-2018 Метод испытаний для идентификации графеновых материалов в волокнах – метод просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ).
  • T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
  • JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
  • JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS D 8544-2016 Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
  • KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц-Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
  • KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие-Измерение толщины покрытия-Метод просвечивающей электронной микроскопии
  • KS I ISO 10312-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод прямой просвечивающей электронной микроскопии
  • KS I ISO 13794-2008(2018) Окружающий воздух-Определение асбестовых волокон-Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом

KR-KS, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп
  • KS C ISO 21363-2023 Нанотехнологии — Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

工业和信息化部, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

IX-IX-IEC, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • IEC TS 62607-6-17:2023 Нанопроизводство. Ключевые контрольные характеристики. Часть 6-17. Материал на основе графена. Параметр порядка: рентгеновская дифракция и просвечивающая электронная микроскопия.

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM E3143-18b(2023) Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
  • ASTM D7201-06(2020) Стандартная практика отбора проб и подсчета находящихся в воздухе волокон, включая асбестовые волокна, на рабочем месте с помощью фазово-контрастной микроскопии (с возможностью просвечивающей электронной микроскопии)

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии
  • GB/T 33234-2016 Метод испытания на отражение отражающего стеклянного зеркала для системы концентрированной солнечной энергии
  • GB/T 34168-2017 Метод исследования биологического действия материалов наночастиц золота и серебра с помощью просвечивающего электронного микроскопа
  • GB/T 33235-2016 Метод испытания отражающего стеклянного зеркала на воздействие града для концентрированной солнечной энергии
  • GB/T 33839-2017 Методы просвечивающей электронной микроскопии для биологических образцов, содержащих углеродные наноматериалы, обладающие биологическим действием

Association Francaise de Normalisation, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • NF X43-067*NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • NF X43-054*NF ISO 13794:2020 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • FD T16-209:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • NF T16-404:2020 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • NF T16-404*NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
  • NF ISO 13794:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Количественное определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
  • NF X43-050:2021 Качество воздуха. Определение концентрации асбестового волокна методом просвечивающей электронной микроскопии. Косвенный метод.
  • NF EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии - Определение распределения частиц по размерам и форме методом просвечивающей электронной микроскопии

AENOR, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • UNE 77253:2003 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямо-переносной электронной микроскопии.
  • UNE 77236:1999 ОКРУЖАЮЩИЙ ВОЗДУХ. ОПРЕДЕЛЕНИЕ СОДЕРЖАНИЯ АСБЕСТОВЫХ ВОЛОКОН. МЕТОД ПРЯМОТРАНСФЕРНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ.

Professional Standard - Commodity Inspection, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • SN/T 2649.1-2010 Определение асбеста в косметике для импорта и экспорта. Часть 1: Метод рентгеновской дифракции и сканирующей электронной микроскопии.

PH-BPS, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • PNS ISO 21363:2021 Нанотехнологии - Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

Professional Standard - Aquaculture, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • SC/T 7209.3-2007 Диагностические протоколы микроцитоза устриц. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
  • SC/T 7207.3-2007 Протоколы диагностики мартейлиоза устриц. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
  • SC/T 7205.3-2007 Протоколы диагностики бонамиоза устриц. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии.

Danish Standards Foundation, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • DS/ISO/TS 10797:2012 Нанотехнологии - Характеристика одностенных углеродных нанотрубок с помощью просвечивающей электронной микроскопии
  • DS/ISO/TS 22292:2021 Нанотехнологии - реконструкция 3D-изображений нанообъектов, закрепленных на стержнях, с использованием просвечивающей электронной микроскопии.

European Committee for Standardization (CEN), Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)
  • prEN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

ES-UNE, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • UNE-EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020) (одобрено Испанской ассоциацией нормализации в феврале 2022 г.)

AT-ON, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • OENORM EN ISO 21363:2021 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

未注明发布机构, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • DIN EN ISO 21363:2022 Нанотехнологии – измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

German Institute for Standardization, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • DIN SPEC 52407:2015-03 Нанотехнологии - Методы подготовки и оценки для измерения частиц с помощью атомно-силовой микроскопии (АСМ) и трансмиссионной сканирующей электронной микроскопии (TSEM)
  • DIN EN ISO 21363:2022-03 Нанотехнологии. Измерение распределения частиц по размерам и форме с помощью просвечивающей электронной микроскопии (ISO 21363:2020)

GOSTR, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • PNST 507-2020 Нанотехнологии. Одностенные углеродные нанотрубки. Характеристика с помощью просвечивающей электронной микроскопии и энергодисперсионной рентгеновской спектрометрии.

Professional Standard - Judicatory, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • JIS K 3850-3:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии с непрямым переносом.
  • JIS K 3850-2:2000 Метод измерения содержания волокнистых частиц в воздухе. Часть 2. Метод просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом.

Professional Standard - Public Safety Standards, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • GA/T 1522-2018 Судмедэкспертиза Осмотр остатков стрельбы Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия
  • GA/T 1939-2021 Судмедэкспертиза Текущая точечная экспертиза Сканирующая электронная микроскопия/рентгеновская спектроскопия

Society of Automotive Engineers (SAE), Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • SAE J1647-1995 Пластмассовые материалы и покрытия для использования внутри или на оптических деталях, таких как линзы и отражатели устройств переднего освещения с высокоинтенсивным разрядом, используемых в автомобилях, Рекомендуемая практика, март 1995 г.

ZA-SANS, Дифракционная электронная микроскопия Просвечивающая электронная микроскопия

  • SANS 1400:1993 Средства (включая очки) для защиты глаз, лица и шеи от неионизирующего излучения, возникающего при сварке и аналогичных операциях - Сварочные каски, ручные щитки, очки и сварочные очки




©2007-2023 ANTPEDIA, Все права защищены.