ZH
EN
ES

Электронная микроскопия

Электронная микроскопия, Всего: 107 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Электронная микроскопия, являются: Микробиология, Линейные и угловые измерения, Аналитическая химия, Обработка поверхности и покрытие, Оптическое оборудование, Качество воздуха, Медицинское оборудование, Краски и лаки, Продукция текстильной промышленности, Испытание металлов, Текстильные волокна, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Цветные металлы, Сельское и лесное хозяйство, Астрономия. Геодезия. География, Солнечная энергетика, Оптика и оптические измерения, Кинематография, Изделия из железа и стали, Рыбалка и рыбоводство, Гидравлическая энергетика, Физика. Химия, Мотоциклы и мопеды, Самолеты и космические аппараты в целом, Системы дорожного транспорта, Аудио, видео и аудиовизуальная техника, Структура и элементы конструкции, Метрология и измерения в целом.

Professional Standard - Commodity Inspection, Электронная микроскопия

SN/T 1840-2006 Способ обнаружения вирусов растений методом иммуноэлектронной микроскопии
SN/T 4388-2015 Идентификация кожи. Сканирующая электронная и оптическая микроскопия.
SN/T 3009-2011 Идентификация коррозии морской водой на металлической поверхности с помощью СЭМ

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Электронная микроскопия

GB/T 16594-1996 Измерение длины в микронах с помощью SEM
GB/T 31563-2015 Металлические покрытия. Измерение толщины покрытия. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 17722-1999 Измерение толщины позолоченного покрытия с помощью SEM
GB/T 18735-2002 Общие характеристики тонкого нанометрового стандартного образца для аналитической трансмиссионной электронной микроскопии (AEM/EDS)
GB/T 16594-2008 Общие правила измерения длины в микронном масштабе с помощью СЭМ
GB/T 20307-2006 Общие правила измерения длины в нанометровом масштабе с помощью SEM
GB/T 17362-2008 Метод рентгеноэнергетического спектрального анализа золотых изделий на сканирующем электронном микроскопе
GB/T 27788-2011 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 17362-1998 Неразрушающий метод рентгеновского ЭДС анализа с помощью СЭМ для золотых ювелирных изделий
GB/T 17359-1998 Общие характеристики количественного анализа рентгеновской ЭДС для EPMA и SEM
GB/T 30834-2014 Стандартные методы испытаний для оценки и классификации включений в стали. Сканирующий электронный микроскоп.
GB/T 18735-2014 Микролучевой анализ. Общее руководство по спецификации эталонных материалов нанометровой толщины для аналитического трансмиссионного электронного микроскопа (AEM/EDS).
GB/T 36422-2018 Искусственное волокно. Метод испытания микроморфологии и диаметра. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 28044-2011(英文版) Общее руководство по методу обнаружения биологического действия наноматериалов с помощью просвечивающего электронного микроскопа
GB/T 30834-2022 Рейтинг и классификация включений в стали — метод растрового электронного микроскопа.
GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
GB/T 42557-2023 Технические условия на защиту электромагнитной среды радиотелескопа
GB/T 25189-2010 Микролучевой анализ. Метод определения параметров количественного анализа SEM-EDS.
GB/T 14593-2008 Метод количественного анализа кашемира, шерсти и их смесей. Метод сканирующего электронного микроскопа.
GB/T 42208-2022 Нанотехнологии — Измерение размера наночастиц в многофазной системе — Метод изображения просвечивающей электронной микроскопии.
GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
GB/T 40905.2-2022 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
GB 7667-1996 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа
GB 7667-2003 Доза утечки рентгеновских лучей из электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Электронная микроскопия

T/CSTM 00795-2022 Материалы экспериментальных данных. Требования к изображениям сканирующего электронного микроскопа.
T/CSTM 00229-2020 Идентификация графеновых материалов в материалах покрытий методом сканирующего электронного микроскопа-энергодисперсионного спектрометра
T/CNTAC 21-2018 Метод испытаний для идентификации графеновых материалов в волокнах – метод просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ).
T/NLIA 004-2021 Метод испытания на растяжение SEM на месте для алюминиевого сплава, полученного аддитивным способом
T/CSTM 00346-2021 Автоматическая классификация и статистика включений в стали — метод энергодисперсионного спектра сканирующего электронного микроскопа.
T/GAIA 017-2022 Определение содержания фтора в поверхностном покрытии алюминия и алюминиевых сплавов методом растрового электронного микроскопа и энергодисперсионного спектрометра.
T/CSEE 0193-2021 Технический код для проектирования солнечной электростанции, башни, гелиостата, полевого распределения электроэнергии
T/CEEIA 238-2016 Технические условия на поковки зеркальных пластин для крупных гидроэлектростанций
T/ZZB 1865-2020 Электрические зеркала заднего вида для водителя автомобиля
T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа

Association of German Mechanical Engineers, Электронная микроскопия

VDI 3866 Blatt 5-2004 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии
VDI 3866 Blatt 5-2017 Определение асбеста в технической продукции - Метод сканирующей электронной микроскопии

国家食品药品监督管理局, Электронная микроскопия

YY/T 1587-2018 Медицинский эндоскоп Электронный эндоскоп

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Электронная микроскопия

KS D 8544-2016 Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии
KS R 4066-2013 ЗЕРКАЛО ЗАДНЕГО ВИДА ДЛЯ МОТОЦИКЛА
KS M 0044-1999 Общие правила сканирующей электронной микроскопии
KS I 0051-1999(2019) Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

Guangdong Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронная микроскопия

DB44/T 1527-2015 Микролучевой анализ Метод оценки четкости изображения сканирующего электронного микроскопа
DB44/T 2081-2017 Технические требования к электронной кольпоскопии

Jiangsu Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронная микроскопия

DB32/T 4546-2023 Технические условия на автоматизированный просмотр изображений диатомей с использованием сканирующих электронных микроскопов

Professional Standard - Machinery, Электронная микроскопия

JB/T 7503-1994 Толщина поперечного сечения металлических покрытий Метод измерения сканирующим электронным микроскопом
JB/T 9426.2-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 2: Серия объективов для кинокамер.
JB/T 7023-2014 Поковки подпорных полозьев для гидрогенераторов.Техническая характеристика
JB/T 7023-2002 Спецификация на поковки бегунков гидрогенераторов
JB/T 7023-1993 Технические условия на поковки зеркальных пластин для гидрогенераторов
JB/T 9426.6-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 6. Метод определения различных функций объективов для кинокамеры.
JB/T 9426.4-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 4: Байонетное крепление (тип Ｉ) для объектива кинокамеры 35 мм.
JB/T 9426.5-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 5: Крепление объектива с резьбой (тип C) для объектива кинокамеры 16 мм.
JB/T 5480-1991 Диафрагма электронного микроскопа
JB/T 5481-1991 Нить лампы электронного микроскопа
JB/T 9426.1-2011 Объективы для кинокамеры. Часть 1. Объектив с фиксированным фокусным расстоянием и зумом для кинокамеры.
JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 6842-1993 Метод испытаний сканирующего электронного микроскопа
JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
JB/T 5384-1991 Сканирующий электронный микроскоп - Техническая спецификация

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Электронная микроскопия

GB/T 27788-2020 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Рекомендации по калибровке увеличения изображения.
GB/T 38783-2020 Способ определения толщины покрытия композитов благородных металлов с помощью сканирующего электронного микроскопа
GB/T 35099-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Морфология и элементный анализ одиночных мелких частиц в окружающем воздухе.
GB/T 35097-2018 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия с энергодисперсионной рентгеновской спектрометрией. Определение количественной концентрации неорганических волокнистых частиц в окружающем воздухе.

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, Электронная микроскопия

GJB 737.11-1993 Методы испытаний пиротехнических химикатов. Определение размера частиц. Сканирующая электронная микроскопия.

Association Francaise de Normalisation, Электронная микроскопия

NF X43-067*NF ISO 10312:2020 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод прямой трансмиссионной электронной микроскопии.
NF X43-054*NF ISO 13794:2020 Атмосферный воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямой трансмиссионной электронной микроскопии.

AENOR, Электронная микроскопия

UNE 77253:2003 Окружающий воздух. Определение асбестовых волокон. Метод непрямо-переносной электронной микроскопии.

工业和信息化部, Электронная микроскопия

YS/T 1491-2021 Способ определения сферичности порошка жаропрочных сплавов на основе никеля методом сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Aquaculture, Электронная микроскопия

SC/T 7209.3-2007 Диагностические протоколы микроцитоза устриц. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
SC/T 7207.3-2007 Протоколы диагностики мартейлиоза устриц. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
SC/T 7205.3-2007 Протоколы диагностики бонамиоза устриц. Часть 3. Метод просвечивающей электронной микроскопии.

Military Standard of the People's Republic of China-Commission of Science,Technology and Industry for National Defence, Электронная микроскопия

GJB 5891.6-2006 Метод испытания загрузки материала для инициирования взрывного устройства Часть 6. Измерение размера зерна Сканирующая электронная микроскопия

Professional Standard - Public Safety Standards, Электронная микроскопия

GA/T 1418-2017 Исследование элементного состава судебно-медицинской экспертизы стеклянных доказательств, сканирующая электронная микроскопия/энергетическая спектроскопия

Fujian Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронная микроскопия

DB35/T 110-2000 Электронный зонд и сканирующий электронный микроскоп. Метод рентгеновского энергетического спектрального анализа для обнаружения красочных вещественных доказательств.

Professional Standard - Medicine, Электронная микроскопия

YY/T 0619-2017 Медицинский эндоскоп, режущий эндоскоп с жесткой коагуляцией

U.S. Military Regulations and Norms, Электронная микроскопия

ARMY MIL-P-45602 B VALID NOTICE 2-2013 Перископ, Командование батареи: M65

Shandong Provincial Standard of the People's Republic of China, Электронная микроскопия

DB37/T 420.2-2004 Протокол диагностики болезни скорпионовых пальцев у марикультурных рыб, часть 2: Метод диагностики с помощью сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Aviation, Электронная микроскопия

HB 20094.4-2012 Метод испытаний определения металлов износа в рабочей жидкости для авиации. Часть 4. Сканирующая электронная микроскопия и энергодисперсионная спектрометрия.

International Organization for Standardization (ISO), Электронная микроскопия

ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
ISO/TS 10798:2011 Нанотехнологии - Определение характеристик одностенных углеродных нанотрубок с использованием сканирующей электронной микроскопии и энергодисперсионного рентгеновского спектрометрического анализа.
ISO/TS 21383:2021 Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Квалификация сканирующего электронного микроскопа для количественных измерений.
ISO/FDIS 17751-2 Текстиль. Количественный анализ кашемира, шерсти, других специальных волокон животного происхождения и их смесей. Часть 2. Метод сканирующей электронной микроскопии.
ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

国家能源局, Электронная микроскопия

NB/T 10831-2021 Технические условия на поковки зеркальных пластин для крупных гидроэлектростанций

Professional Standard - Nuclear Industry, Электронная микроскопия

EJ/T 20150.23-2018 После освещения топливной сборки со стержневыми реакторами PWR. Часть 23: СЭМ-анализ труб оболочек твэлов

German Institute for Standardization, Электронная микроскопия

DIN 13090-4:1986-12 Конические фитинги для медицинского оборудования; запорные фитинги для резектоскопов
DIN 28120:2021-04 Круглые фитинги для смотровых стекол со смотровыми стеклами на главном разъеме питания

PL-PKN, Электронная микроскопия

PN T04880-1972 Электронные лампы Осциллографические и радароскопические трубки Методы электрических и оптических испытаний

GOSTR, Электронная микроскопия

GOST 17175-1982 Объективы для фотографии, кино, телевидения. Ряд числовых значений относительных отверстий

International Telecommunication Union (ITU), Электронная микроскопия

ITU-R REPORT BT.2017-1998 Стереоскопическое телевидение Многопрофильный профиль MPEG-2 7 стр.
ITU-R INFORME BT.2017 SPANISH-1998 Многопроекционный профиль стереоскопического телевидения MPEG-2
ITU-R RAPPORT BT.2017 FRENCH-1998 Многопроекционный профиль стереоскопического телевидения MPEG-2

British Standards Institution (BSI), Электронная микроскопия

BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
18/30319114 DC BS ISO 20171. Микролучевой анализ. Сканирующая электронная микроскопия. Формат файла изображения с тегами для сканирующей электронной микроскопии (TIFF/SEM)

Military Standards (MIL-STD), Электронная микроскопия

DOD GG-O-770 D-1986 НАБОР ОТОСКОПА И ОФТАЛЬМОСКОПА, ТИПА БАТАРЕИ [Использовать вместо: DOD GG-O-00770 C]

Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Электронная микроскопия

JIS K 0132:1997 Общие правила проведения сканирующей электронной микроскопии

Professional Standard - Automobile, Электронная микроскопия

QC/T 965-2014 Водитель электрозеркал заднего вида для автомобиля

RU-GOST R, Электронная микроскопия

GOST R 51075-2017 Телевизионное увеличительное оборудование. Основные Характеристики

National Metrological Technical Specifications of the People's Republic of China, Электронная микроскопия

JJF 1916-2021 Спецификация калибровки для сканирующих электронных микроскопов (SEM)

United States Navy, Электронная микроскопия

NAVY MIL-L-22257-1959 СИСТЕМА ОБЪЕКТИВОВ, ТЕЛЕВИЗИОННАЯ МАРКА 2 MOD 0

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Электронная микроскопия

JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
JJG(教委) 11-1992 Правила калибровки сканирующего электронного микроскопа
JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, Электронная микроскопия

JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии