ZH
EN
KR
JP
ES
DEШероховатость поверхности пленки
Шероховатость поверхности пленки, Всего: 8 предметов.
В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Шероховатость поверхности пленки, являются: Резиновые и пластмассовые изделия, Линейные и угловые измерения, Керамика.
Professional Standard - Chemical Industry, Шероховатость поверхности пленки
- HG/T 2348-1992 Стилусный метод измерения шероховатости поверхности полиэфирной пленки для магнитной ленты
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Шероховатость поверхности пленки
- GB/T 31227-2014 Метод контроля шероховатости поверхности атомно-силовым микроскопом напыленных тонких пленок
Japanese Industrial Standards Committee (JISC), Шероховатость поверхности пленки
- JIS R 1683:2007 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
- JIS R 1683:2014 Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии
International Organization for Standardization (ISO), Шероховатость поверхности пленки
- ISO/DIS 19606:2023 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии.
GSO, Шероховатость поверхности пленки
- GSO ISO 19606:2021 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии.
- BH GSO ISO 19606:2022 Тонкая керамика (усовершенствованная керамика, усовершенствованная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии.
British Standards Institution (BSI), Шероховатость поверхности пленки
- 23/30461942 DC BS ISO 19606. Тонкая керамика (высокотехнологичная керамика, современная техническая керамика). Метод определения шероховатости поверхности тонких керамических пленок методом атомно-силовой микроскопии