ZH
EN
ES

Просвечивающая электронная микроскопия +тем

Просвечивающая электронная микроскопия +тем, Всего: 36 предметов.

В международной стандартной классификации классификациями, относящимися к Просвечивающая электронная микроскопия +тем, являются: Качество воздуха, Оптика и оптические измерения, Метрология и измерения в целом, Аналитическая химия, Оптическое оборудование, Образование, Оптоэлектроника. Лазерное оборудование, Испытание металлов, Технические рисунки, Обработка поверхности и покрытие, Материалы для армирования композитов.

American Society for Testing and Materials (ASTM), Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• ASTM D6281-98 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
• ASTM D6281-15 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ)
• ASTM E3143-18a Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
• ASTM E3143-18 Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом
• ASTM E3143-18b Стандартная практика проведения криотрансмиссионной электронной микроскопии липосом

American National Standards Institute （ANSI), Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• ASTM D6281-23 Стандартный метод определения концентрации переносимого по воздуху асбеста в атмосфере окружающей среды и в помещениях, определяемой с помощью просвечивающей электронной микроскопии с прямым переносом (ПЭМ) (стандартный + Redline PDF-пакет)

Professional Standard - Machinery, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• JB/T 9352-1999 Метод испытаний просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5383-1991 Технические характеристики просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5584-1991 Метод испытаний усиления просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5585-1991 Метод испытания разрешения просвечивающего электронного микроскопа
• JB/T 5586-1991 Классификация и основные параметры просвечивающего электронного микроскопа

Group Standards of the People's Republic of China, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• T/CSTM 00162-2020 Методы калибровки просвечивающего электронного микроскопа
• T/CSTM 00166.3-2020 Характеристика графеновых материалов. Часть 3. Просвечивающий электронный микроскоп

National Metrological Verification Regulations of the People's Republic of China, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• JJG(地质) 1016-1990 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии
• JJG(教委) 12-1992 Правила калибровки просвечивающей электронной микроскопии

Professional Standard - Education, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• JY/T 011-1996 Общие принципы просвечивающей электронной микроскопии
• JY/T 0581-2020 Общие правила методов анализа просвечивающей электронной микроскопии

International Organization for Standardization (ISO), Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• ISO/CD 25498:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO/CD 19214:2023 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.
• ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO 25498:2018 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• ISO 19214:2017 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Метод определения кажущегося направления роста проволочных кристаллов с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• GB/T 18907-2002 Метод дифракции выбранных участков электронов для просвечивающих электронных микроскопов
• GB/T 18907-2013 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа.
• GB/T 21637-2008 Способ морфологической идентификации коронавируса с помощью просвечивающей электронной микроскопии

国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• GB/T 35098-2018 Микролучевой анализ. Просвечивающая электронная микроскопия. Метод морфологической идентификации вирусов растений с помощью просвечивающей электронной микроскопии.

British Standards Institution (BSI), Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• BS ISO 25498:2018 Отслеживаемые изменения. Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранной области с использованием просвечивающего электронного микроскопа
• BS ISO 25498:2010 Микролучевой анализ. Аналитическая электронная микроскопия. Электронографический анализ выбранных участков с использованием просвечивающего электронного микроскопа.

Shanghai Provincial Standard of the People's Republic of China, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• DB31/T 315-2004 Метод калибровки увеличения просвечивающего электронного микроскопа

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• KS D 2716-2008(2018) Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
• KS D 2716-2008 Измерение диаметра наночастиц－Просвечивающий электронный микроскоп
• KS D 8544-2006 Металлическое покрытие. Измерение толщины покрытия. Метод просвечивающей электронной микроскопии.
• KS D 8544-2016(2021) Металлическое покрытие－Измерение толщины покрытия－Метод просвечивающей электронной микроскопии

KR-KS, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• KS D 2716-2023 Измерение диаметра наночастиц — Просвечивающий электронный микроскоп

工业和信息化部, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• YB/T 4676-2018 Анализ выделенных фаз в стали методом просвечивающей электронной микроскопии

中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会, Просвечивающая электронная микроскопия +тем

• GB/T 34331-2017 Метод исследования вируса зеленой крапчатой мозаики огурца методом просвечивающей электронной микроскопии

Другие:   электронный микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп, просвечивающий электронный микроскоп, Тема просвечивающего электронного микроскопа, Просвечивающая электронная микроскопия +тем, электронный микроскоп, б/у просвечивающий электронный микроскоп, ТЭМ просвечивающий электронный микроскоп, ТЭМ просвечивающий электронный микроскоп, трансмиссионный электронный микроскоп tem+, электронный микроскоп, ТЭМ просвечивающий электронный микроскоп, электронный микроскоп, временная передача, временная передача, Темный трансмиссометр, Просвечивающая электронная микроскопия TEM, передача+тема, просвечивающая электронная микроскопия, температура передачи.