17.040.30 测量仪器仪表 标准查询与下载



共找到 2089 条与 测量仪器仪表 相关的标准,共 140

Geometrical product specifications (GPS)—Guidelines for the evaluation of coordinate measuring machine (CMM) test uncertainty

ICS
17.040.30
CCS
J04
发布
2017-11-01
实施
2018-05-01 00:00:00.0

Geometrical product specifications (GPS)—Metrological characteristics and guide to uncertainty of measurement for optical confocal microscopes

ICS
17.040.30
CCS
J04
发布
2017-11-01
实施
2018-05-01 00:00:00.0

Geometrical product specification(GPS)—Acceptance and reverification tests for digital photogrammetry 3D coordinate measuring system

ICS
17.040.30
CCS
J04
发布
2017-11-01
实施
2018-05-01 00:00:00.0

Geometrical product specifications (GPS)—X-ray three dimensional size measuring machines—Part 3:Acceptance and reverification tests

ICS
17.040.30
CCS
J04
发布
2017-11-01
实施
2018-05-01 00:00:00.0

GB/T16857 的本部分规定了带有接触式探测系统的坐标测量机特性的验收检测和复检检测的方法,且仅在坐标测量机有以下配置时适用,一任何类型接触式探测系统; ————离散点探测的模式; ————探针针头为球形或半球形。 GB/T16857 的本部分适用于有以下任一配置的坐标测量机,a)“单探针探测系统b)“多探针探测系统,即一个测头下固定地连接了多个探针(如星形探针)@)多测头探测系统,如配置了多个测头,每个测头都安装了探针d)万向探测系统; e)探针和测头交换系统;虽,手动(无驱动式)坐标测量机。 本部分不适用于非接船式的探测系统,它需要不同的检测步了。 为方便用户,将“坐标测量机的多探针探测系统的尺寸误差>简称为“多探针尺寸误差”。 如果有可能把探测系统的特性与坐标测量机的特性分离,那么坐标测量机的影响就可以忽略。 详细信息参见附录C。

Geometrical product specifications(GPS)—Acceptance and reverification tests for coordinate measuring machines (CMM)—Part 5:CMMs using single or multiple stylus contacting probing systems

ICS
17.040.30
CCS
J04
发布
2017-11-01
实施
2018-05-01 00:00:00.0

Geometrical product specifications (GPS)—Measurement of linear sizes (500 mm-10000 mm) of plain workpiece—Choice of measuring instrument

ICS
17.040.30
CCS
J04
发布
2017-09-29
实施
2018-04-01 00:00:00.0

本标准规定了7 :24 工具圆锥量规的型式与基本参数、要求.检验标志与包装等。 本标准适用于等级为1级.2级.3级的7:24工具圆锥量规的制造.检验。

Gauges of 7:24 tapers—Inspection

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2016-10-13
实施
2017-11-01 00:00:00.0

本标准规定了 HSK工具圆锥量规的型式与基本参数、要求、检验、标志与包装等。 本标准中所列出的1:9.98工具圆锥量规适用于检验GB/T 19449.1-2004规定的A型和C型两种柄部型式的圆锥锥度;1:10工具圆锥量规用于检验GB/T 19449.2-2004规定的A型和C型两种安装孔的圆锥锥度。

Gauges of HSK tapers—Inspection

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2016-10-13
实施
2017-05-01 00:00:00.0

本标准规定了合成信号发生器术语和定义、通用技术要求、试验方法、质量检验规则和包装运输等内容。本标准适用于各种类型的合成信号发生器。具有合成信号发生器功能的插入单元或附属装置的测量仪器可以参照本标准。

General specification for synthesized signal generators

ICS
17.040.30
CCS
L85
发布
2013-12-31
实施
2014-07-15

本标准规定了时间法集中空调分户计量装置(以下简称装置)的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、运输和贮存本标准适用于通过计算集中空调系统的末端设备通断控制的运行时间,来进行分户计量的装置。

Time-based cost-allocation device for central air-conditioning

ICS
17.040.30
CCS
N13
发布
2013-07-19
实施
2014-03-01

本标准规定了圆柱直齿渐开线花键量规(以下简称“量规”)的术语和定义、符号及说明、分类、型式与尺寸参数、公差、要求、检验方法、标志与包装等。本标准规定的量规适用于检验GB/T 3478中规定的分度圆直径≤180 mm的花键。分度圆直径>180 mm或GB/T 3478中未规定的花键,可参照使用。

Straight cylindrical involute splines.Gauge

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2012-12-31
实施
2013-10-01

本标准规定了齿轮单面啮合整体误差测量仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装等。 本标准适用于以标准啮合元件为基准的圆柱齿轮单面啮合整体误差测量仪。

Gear single-flank meshing integrated error measuring instrument

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了电感测微仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验规则、标志、包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、1μm,量程不大于2mm,以指针指示的电感测微仪。

Inductive length measuring instrument

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了数显电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分辨力为0.01μm、0.1μm、1μm,量程不大于2mm的数显电感测微仪(以下简称“测微仪”)。

Inductive length measuring instrument with digital display

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了齿轮渐开线样板的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于基圆半径r不大于400mm的1级和2级齿轮渐开线样板。

The involute artifact of gear

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了圆度测量仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于各类圆度测量仪(以下简称“圆度仪”)。

Roundness measuring instrument

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了齿轮双面啮合综合测量仪的术语和定义、型式与基本参数、要求、安全性能、检验条件、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于测量模数1mm-10mm的圆柱齿轮、锥齿轮和准双曲面齿轮、蜗轮蜗杆的双面啮合综合测量仪。

Gear dual-flank meshing measuring instrument

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了齿轮螺旋线样板的术语和定义、型式与基本参数、要求、检验方法、标志与包装等。 本标准适用于基圆半径r不大于200mm、工作面为渐开螺旋面的1级和2级齿轮螺旋线样板。

The helix artifact of gear

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了峰值电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、1μm,以指针指示的峰值电感测微仪(以下简称“测微仪”)。

Peak inductance micrometer

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01

本标准规定了电子柱电感测微仪的术语和定义、型式和基本参数、要求、检验方法、检验规则、标志与包装等。 本标准适用于分度值为0.1μm、0.2μm、1μm,以电子柱(发光单元)显示的电子柱电感测微仪(以下简称“测微仪”)。

Electronic column micrometer

ICS
17.040.30
CCS
J42
发布
2011-01-10
实施
2011-10-01



Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号