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규격 IEC 60748은 규격 IEC 60747-1과 연계하여 검토되어야 하며 집적 회
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 1:General
서 문 이 규격은 1999년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-11(1999-
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-11:Digital integrated circuits-Blank detail specification for single supply integrated circuit,electrically erasable, and programmable read-only memory
서 문 이 규격은 2001년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-10(2001-
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 12:Digital integrated circuits-Blank detail specification for programmable logic devices(PLDs)
이 규격은, 저전압 집적 회로에 대한 전원 전압의 공칭값 및 그 허용차, 그리고 입력
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-20:Digital integrated circuits-Family specification-Low voltage integrated circuits
서 문 이 규격은 1992년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-3, Semic
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 3:Blank detail specification for HCMOS digital integrated circuits(series 54/74 HC, 54/74 HCT, 54/74 HCU)
서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-6(1991-1
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits Section 6:Blank detail specification for microprocessor integrated circuits
서 문 이 규격은 1994년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-9(1994-1
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 9:Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
서 문 이 규격은 1986년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3, Semico
Semiconductor devices-Integrated circuits Part 3:Analogue integrated circuits
서 문 이 규격은 1992년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-4(1992),
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 4:Family specification for complementary MOS digital integrated circuits, series 4 000 B and 4 000 UB
서 문 이 규격은 1992년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-5(1992-1
Semiconductor devices-Integrated circuits Part 2:Digital integrated circuits Section 5-Blank detail specification for complementary MOS digital integrated circuits(series 4 000B and 4 000UB)
서 문 이 규격은 1992년에 초판으로 발행된 IEC 60748-2-7(1992-1
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits Section 7:Blank detail specification for integrated circuits fusible-link programmable bipolar read-only memories
서 문 이 규격은 1993년 초판으로 발행된 IEC 60748-2-8(1993-07
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2:Digital integrated circuits-Section 8:Blank detail specification for integrated circuits static read/write memories
서 문 이 규격은 1991년에 초판으로 발행된 IEC 60748-3-1 Semic
Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 3:Analogue integrated circuits-Section 1:Blank detail specification for monolithic integrated operational amplifiers
이 규격은 전자 기기에 쓰는 디지탈 반도체 집적 회로 중에서, 특별히 신뢰성 보증이 요구되
General rules for reliability assured digital semiconductor integrated circuits
이 규격은 주로 산업용 및 민생용 전자기기에 쓰는 집적회로 (혼성 집적회로를 제외함)의 사
Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Semiconductor Integrated Circuits
Semiconductor devices; metal cases with ceramic insulation; requirements and tests
Semiconductor devices; metal cases with ceramic insulation, requirements and tests
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