共找到 197 条与 金属材料试验综合 相关的标准,共 14 页
Specifications for quality control of non-destructive testing in the nuclear industry
Determination of Mineral Cell Parameters Powder X-ray Diffraction Method
本标准对高频疲劳试验机的主参数系列、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等做了统一的规定。 本标准适用于最大试验力不大于500kN、最大动态试验力不超过±250kN的金属材料及构件试验用的电磁共振型高频疲劳试验机。
High-frequency fatigue tester
本标准规定了杠杆式力标准机的技术要求、试验方法、检验规则、成套性以及标志与包装。 本标准适用于最大负葆为50kN至1MN的单杠杆的杠杆式力标准机,对于其他负荷和复杠杆的力标准机可参照使用。
Technical conditions of lever force standard machine
Metal products. Methods of measuring from variatons
本标准适用应于厚度从0.2~2.0mm范围内各种金属薄板的扩孔试验,用以检验金属板带的扩孔或翻边成形性。
Test method for formability of sheet metal - Hole expansion test
本标准对金属薄板各种成形性试验方法中的共同过程,如试样毛坯的选料与下料、试验机的准备与维护、毛坯的清洗与打标号、润滑剂的配比与涂法、予试验、正式试验、数据采用集和写报告等工作的共同要求作如下的规定。
General test procedure for test methods for formability of sheet metal
本标准适用于厚度从0.2~2.0mm,宽度等于或大于90mm的金属板和带的杯突试验。用以检查金属板、带的拉胀成形性能。 本标准为GB4158-84《金属杯突试验方法》的补充。
Test method for formability of sheet metal - Cupping test
本标准适用应于厚度从0.45~2.5mm范围内种金属板材的拉深试验,用以检验金属板、带的拉深(或冲杯)成形性能。本标准包括有两种可供选用的试验方法:逐级试验法和最大载荷法。本标准的逐级试验法是参照国际深冲学会组织(IDDRG)推荐的国际拉深试验标准规定的。
Test method for formability of sheet metal deep drawing
本标准适用于厚度从0.45~2.5mm范围内各种金属板材的凸耳试验,用以检验金属板、带在拉深成形中表现出的平面各向异性性质。
Test method for formability of sheet metal - Lug test
本标准适用于厚度从0.3~3.0mm范围内金属薄板的弯曲试验,用以测定金属板带的最相对弯曲半径和检验其弯曲成形性能。
Test methods for formability of sheet metal - bend test
本标准适用应于厚度从0.5~1.6mm范围内种金属薄板锥杯板材试验,用以检验金属板、带的拉深与拉胀两者的综合成形性能。本标准参照国际深冲学术组织(IDDRG)推荐的规定而制定的。
Test method for formability of sheet metal - cone cup test
本标准适用于基体金属之一般试验及检验。除个别标准之规定外皆依本通则办理。
General Rules for Tests and Inspection of Base Metals
Testing Method for Conductor-Resistance and Resistivity of Metallic Resistance materials
Heat-resistant alloys. Methods of testing and estimation of macrostructures
Aluminium and aluminium alloys. Copper and copper alloys. Samples, specimens and test pieces.
This document provides guidance for the selection and application of microetectronic devices in Military systems. Emphasis is placed upon considerations affecting reliability of systems employing such devices.
MICROELECTRONIC DEVICE DATA HANDBOOK
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