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超声波扫描显微镜国产发展

2021.3.15

——聚束科技创始人之一、副总经理李帅专访

分析测试百科网讯 作为观察微观世界的“科学之眼”,电子显微镜在生命科学、材料、电子半导体等各领域的应用日益广泛,但长久以来该市场都被进口产品垄断。近年来一匹黑马出现在电子显微镜市场上,不仅打破了国外垄断,且带来了巨大的应用想象空间。这匹黑马就是2015年成立的聚束科技(北京)有限公司(以下简称聚束科技)。分析测试百科网到访聚束科技北京总部,采访了聚束科技创始人之一、副总经理李帅,他分享了聚束科技创业至今的故事,并为我们展示了高通量电镜应用的广阔空间。

分析测试百科网总经理卞利萍(左)与聚束科技副总经理李帅(右)

独一无二的高通量(场发射)扫描电镜navigator-100

李帅首先介绍了聚束科技的高通量(场发射)扫描电镜,通过对快速成像技术、纳米平台、高速偏转以及ai控制的系统化创新设计,实现了高通量成像,成像速度可达到传统电镜的数十倍以上。以半导体......

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超声波扫描显微镜国产发展相关资料

团结、创新、共享 “北京品牌”助力国产仪器发展

互相帮助、共同推出“北京品牌”,使北京仪器企业成为国产仪器领头羊,推动国家仪器行业发展。中国石化石油化工科学研究院首席专家/教授级高工 徐广通  徐广通说,“要在一个新的阶段用一个新的理念构建一个新的格局。”在中美贸易战爆发后,中国许多领域都被

超声波扫描显微镜工作原理

  超声波扫描显微镜,英文是:Scanning Acoustic Microscope,简称SAM,由于它的主要工作模式是C模式,因此也简称:C-SAM。现在做失效分析的实验室里,这个设备直接被通称为C-SAM,就像X射线透射机被通称

扫描电子显微镜之——发明和发展历史

Knoll和他的学生Ernst Ruska发明了透射电子显微镜。电子显微镜发展的最初形态是透射电镜  在上世纪30-40年代,除了透射电子显微镜外,其他类型电子显微镜,如扫描式,发射式,反射式,电子投射式,以及场发射式等也都相继在德国提出并实验过

扫描探针显微镜发展历史

纳米材料与纳米器件的制造等,科学技术的发展也对科研工具扫描探针显微镜的性能提出越来越高的要求,要求扫描探针显微镜具有更快的成像速度、更高的成像精度以及操纵的鲁棒性。  虽然硬件技术(如探针制造技术、高精度传感器等)能够提高扫描探针显微镜的

扫描电子显微镜的性能特点介绍

地质等。扫描电镜虽然是显微镜家族中的后起之秀, 但由于其本身具有许多优点, 发展速度是很快的。1 仪器分辨率较高, 通过二次电子象能够观察试样表面6nm左右的细节, 采用LaB6电子枪, 可以进一步提高到3nm。2 仪器放大倍数变化范围大

扫描隧道显微镜(STM)与原子力显微镜(AFM)的对比

1.1 STM工作原理扫描隧道显微镜的基本原理是将原子线度的极细探针和被研究物质的表面作为两个电极,当样品与针尖的距离非常接近(通常小于1nm)时,在外加电场的作用下,电子会穿过两个电极之间的势垒流向另一电极。尖锐金属探针在样品表面扫描

扫描隧道显微镜的发展历史

)在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明了,世界上第一台具有原子分辨率的扫描隧道显微镜,利用针尖和表面间的隧道电流随间距变化的性质来探测表面的结构,获得了实空间的原子级分辨图像。这一发明使显微科学达到了一个新的境界,并对物理、化学、生物、材料等领域的研究产生了巨大的推动作用。为此格尔德·宾宁和海因里希·罗雷于1986年被授予诺贝尔物理奖。

超声波扫描显微镜特点

等  材料的空洞,气泡,间隙等超声波显微镜和 X-光检测技术的比较X-光检测适用于检测内部的结构性情况,比如 IC 集成电路内部的金线分布等,但并不能检测芯片与基底之间粘接层的缺陷,超声波扫描显微镜主要适用与检测这些粘接层或其他界面之前的缺陷。

扫描电子显微镜能谱仪(EDS)原理

:wavelengthdispersive X-ray spectroscopy)。在分析电子显微镜中均采用探测率高的EDS。从试样产生的X射线通过测角台进入到探测器中。图1示出EDS探测器系统的框图。对于EDS中使用的X射线探测器,一般都是用高纯单晶硅中掺杂

超声波扫描显微镜-仪器信息

性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜

  从在线观察到离线分析采用无界限约束的新界面设计,实现了SPM简单便捷的观察和分析。   ②智慧的导航功能   可以在大范围扫描图像中自由自在的导航观察某特定区域,也可定位返回某个观察

Thermo Scientific™ Prisma™ E SEM是首台支持一体化ColorSEM技术进行直观元素分析的钨灯丝扫描电子显微镜。Prisma 配置环境真空模式,并可灵活配置,多种配件选项

Quattro SEM为具有独特环境真空功能的极灵活、多功能高分辨率扫描电镜,可以将成像和分析全面性能与环境模式(ESEM)相结合,使得样品研究得以在自然状态下进行。