技术参数：能量：1 nJ 脉冲宽度(800 nm)：40 fs 重复频率：10-100 Hz 泵浦能量(532 nm, < 200 ns): 10 mJ......
技术参数：波长：1250 nm 脉冲宽度(FWHM)：60-80 fs 脉冲功率：1-2 TW 输出稳定性：<2% RMS 重复频率：10 Hz 束发散......
技术参数：波长范围： 740-880 nm 脉冲宽度范围：12-40 fs / 30-120 fs/ 6-15 fs 灵敏度：zei小平均功率100 mW@1......
技术参数：波长：700-1500 nm 动态量程： 108 (in window 104) 瞬态时间范围： 950 ps 输入脉冲能量： (40-50 fs ......
技术参数：波长范围：700-1000 nm;1000-1400 nm 脉冲宽度范围：20-200 fs; 200–2000 fs 输入脉冲能量：&......
技术参数：脉冲宽度(FWHM)： < 150-300 fs 波长： 1560 ±10 nm 平均输出功率： > 100 mW 峰值输......
技术参数：脉冲宽度：< 70fs 调谐范围：1230-1270 nm 输出功率：180-250 mW 推荐的泵浦功率：6-10 W 重复频率：75/10......
仪器简介：Del Mar Photonics公司(http://www.dmphotonics.com)总部位于美国加州圣地亚哥，是一家专注于高级科学和工业应......
仪器简介：NanoMap-D扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。 1、三维......
仪器简介： 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术，并与压电陶瓷（PZT）扫描完美结合，可以再不丧失精度的情况下，即得到......
仪器简介： 提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定......
仪器简介：提供了二维分析、三维分析、表面纹理分析、粗糙度分析、波度分析、PSD分析、体积、角度计算、曲率计算、模拟一维分析、数据输出、数据自动动态存储、自定义......
仪器简介： NanoMap-D双模式扫描三维表面轮廓仪是用于表面结构测量和表面形貌分析的一款测量计量型设备。既可以 用于科学研究，也可以用于工业产品的检测。 ......
仪器简介： 该系统利用扫描探针显微镜光杠杆位移检测技术和超平整参照面-大型样品台扫描技术，并与压电陶瓷（PZT）扫描完美结合，可以再不丧失精度的情况下，即得到......
仪器简介：应用于IC、半导体制造及科研开发等领域 覆盖生产线上所有非金属薄膜 多参数和多层膜测量技术参数：Nanothi 100技术规格 可测薄膜 可测膜层 ......
