产品特点：JSM-6510/LA, JSM-6610A/LA 系列可以在SEM图像上指定分析位置，开始EDS分析。VID将采集的X射线谱图和Visual Pea......
产品特点：JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统，通过与SEM的马达......
产品特点：JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统，通过与SEM的马达......
JED-2300/2300F 能谱仪JED-2300/2300F Analysis Station是以“图像观察和分析“ 为基本理念的TEM/EDS集成系统。通......
产品规格：JSM-7100FJSM-7800F分辨率1.2nm (30kV)、3.0nm (1kV)0.8nm (15kV)、1.2nm (1kV)加速电压0.......
应用数据 小鼠大脑 突触细分数据黄色区域：突触囊泡绿化面积：突触后部增厚部分红色区域：突触后部样品: 承蒙瑞典隆德大学医学系生物成像中心的Deniz ......
系统简介JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan产品）组合使用，能获得大量的大范围的切片图像。这样就能够进行数百微米区域的三维重构。通过三......
产品特点：肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与3View®2XP（Gatan公司制造）结合使用，能对样品进行自动切割，自动获取图像......
Serial Block-face SEM 3View肖特基场发射扫描电子显微镜能长时间稳定地提供高电流下的微细探针，与View®2XP（Gatan公司制造）结......
产品规格：SEM加速电压0.1 ～ 30.0 kV分辨率 (zei佳WD时)1.2 nm (15 kV, GB模式)1.6 nm (1 kV, GB模式)倍率x......
产品特点：高速分析浸没式肖特基电子枪与zei佳光阑角控制镜组合，大探针电流分析时也能保持高分辨率。高速加工FIB镜筒利用高电流密度的Ga离子束,对样品进行高速加......
产品特点：高分辨率SEM观察通过采用电磁场叠加的圆锥形物镜、GB模式和in-lens检测器，在1kV低加速电压下实现了1.6nm的保证分辨率。高速分析浸没式肖特......
产品特点：双束加工观察系统 JIB-4700F能进行高分辨观察、高速分析、高速加工的FIB/SEM 装置。随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、......
JIB-4700F 双束加工观察系统随着先进材料构造的微细化和制造过程的复杂化，形貌观察、元素分析和晶体分析等的评估技术也对分辨率和精度有了更高的要求。为了满足......
主要附件气体注入系统 (IB-02100GIS2)碳沉积圆筒 (IB-52110CDC2)钨沉积圆筒(IB-52120WDC2)白金沉积圆筒 (IB-52130......
产品规格FIB离子源Ga （镓）液态金属离子源加速电压1～30ｋV（5 kV/步）放大倍率×60 （用于视场搜索）×200～×300,000图像分辨率......
产品特点：高性能FIB镜筒JIB-4000采用高性能的FIB镜筒，zei大离子束流高达 60 nA，能进行快速研磨。大电流下的快速加工尤其适合于大面积的研磨，制......
产品特点：JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能对样品表面进行SIM观察 、研......
JIB-4000 聚焦离子束加工观察系统JIB-4000聚焦离子束加工观察系统配置了高性能的离子镜筒(单束FIB装置)。被加速了的镓离子束经聚焦照射样品后，就能......
产品规格：高真空模式: 3 nm(30 kV *1)、4 nm(20 kV)、8 nm(3 kV) 、15 nm(1 kV)分辨率低真空模式*2: 4 nm(3......
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