分析测试百科网
|
仪器谱
日本电子株式会社(JEOL)
400-6699-117转1000
首页
公司简介
新闻动态
产品展示
应用文献
资料下载
视频
直播
媒体关注
微信文章
咨询留言
联系我们
产品
新闻
下载
热门搜索:
分析测试百科网
>
日本电子
>
新闻动态
黄金会员
诚信认证:
工商注册信息已核实!
扫一扫即可访问手机版展台
气质联用(GC-MS)
液质联用(LC-MS)
生物质谱/MALDI质谱
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
电子探针X射线微区分析仪(EPMA)
核磁共振(NMR)
电子自旋(顺磁)共振波谱仪(ESR)
扫描电镜(SEM)
透射电子显微镜(透射电镜、TEM)
电镜制样设备
CMOS相机
电子束刻蚀设备
日本电子
全新电子光学仪器进展
氩离子截面抛光应用讲座1-块状样品的制备
扫描电镜观察和分析磁性样品
JEOL高亮度长寿命热场发射电子枪
JEOL 透射电镜断层三维重构系统
日本电子株式会社(JEOL)
分析测试百科网
仪器谱
捷欧路(北京)科贸有限公司
耗材谱
安特百货
厂商动态
新品新闻
应用案例
厂商技术交流会
河南师范大学购置200kV透射电子显微镜(JEM-2100)项目的招标公告
发布时间:2010-04-12 16:10
地区:河南 详细内容:河南师范大学购置200kV透射电子显微镜(JEM-2100)项目的招标公告 (豫财单一来源[2010]10号) 河南省科教仪器设备招标有限公司受河南师范大学委托,就200kV透射电子显微镜(JEM-2100)进行单一来源采购,欢迎符合相关条件的供应商参加投标。现将采购事宜公告......
[全文]
上一页
1
2
3
共 3 页
分析测试百科网
|
站点地图
|
律师声明
|
关于我们
|
改善您的体验
|
友情链接
|
联系我们
产品列表
移动版:
资讯
直播
仪器谱
Copyright ©2007-2024 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号