原子力显微镜(AFM)

NanoFirst-2000接触式AFM应用了高性能DSP数字化技术和18-bit高精度模/数、数/模转换技术，并自动校正A/D和D/A输入输出偏差和零点漂移的影响，数字反馈采样频率高达64.0kHz。高压放大器为集成高压运算放大器，输出范围+/-150V，扫描范围大，噪声低。针尖-样品有手动和自动逼近方式，能对云母表面进行常规原子分辨， 可测量和分析力曲线、高度像、起伏信号像、摩擦力像、静电力像、磁力像。选配液体池可在液体中成像。系统软件能工作在Win98/2000/XP环境，主机选用台式PC或笔记本电脑均可。备有实验指导教程，特别适合于高校纳米科技教学、实验室的SPM培训和会议现场演示，配备本公司的高分辨CCD可从事科学研究工作。

NANOFIRST-2000 标准配置技术指标
工作模式 接触模式（Contact Mode）、摩擦力/横向力模式（LFM）、F-Z模式
样品要求 尺寸≤Φ30mm，厚度：≤15mm
样品移动台范围 0~5mm
分辨率 横向 0.25nm, 纵向0.03nm（云母定标）
扫描范围 6μm×6μm
扫描速率 >40000点/秒
扫描角度 0~360°
扫描偏移 任意
扫描器校正 实时非线性校正
横向测量精度 ＜2%
扫描区域选择 实时扫描窗口＋扫描存储窗口内剪切
图像采样点 256×256或512×512
XY扫描比率 1:1，2:1，4:1，8:1
控制器反馈方式 DSP数字反馈
反馈采样速率 64.0kHz
A/D通道 1个14-bit A / D，2个独立16-bit A / D
D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A
步进马达控制 手动和全自动进退
计算机接口 USB
防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱

NANOFIRST-2100标准配置技术指标
工作模式 STM：恒流模式、恒高模式、电流-电压（I-V）隧道谱、电流-间隙（I-Z）隧道谱；
AFM:接触模式（Contact Mode）、摩擦力/横向力模式（LFM）、F-Z模式
样品要求 尺寸≤Φ30mm，厚度：≤15mm
样品移动台范围 0~5mm
分辨率 STM：横向 0.1nm, 纵向0.01nm（以HOPG定标）
AFM：横向 0.25nm, 纵向0.03nm（云母定标）
STM电流检测器 分辨率≤1pA，范围 -10nA~10nA
样品偏压 16-bit D/A，-10.0~+10.0V
扫描范围 6μm×6μm
扫描速率 >40000点/秒
扫描角度 0~360°
扫描偏移 任意
扫描器校正 实时非线性校正
横向测量精度 ＜2%
扫描区域选择 实时扫描窗口＋扫描存储窗口内剪切
图像采样点 256×256或512×512
XY扫描比率 1:1，2:1，4:1，8:1
控制器反馈方式 DSP数字反馈
反馈模式 STM：线性和对数反馈；AFM：线性反馈
反馈采样速率 64.0kHz
A/D通道 1个14-bit A / D，2个独立16-bit A / D
D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A
步进马达控制 手动和全自动进退（STM自动保护针尖）
计算机接口 USB
防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱

为教学和研究设计，配有专业防震箱；
DSP全数字化控制，操作简洁直观；
仅需要更换针架，即可切换STM或AFM；
提供实验标准光栅、云母和HOPG样品；
配有详尽的实验教学指导教程；
可组合光学连续变倍显微镜，样品观测范围从1nm到20nm；
可选配液体池和电化学附件；
可选配纳米操纵和加工功能模块；
可选配环境气氛控制设备；
配备二维样品移动平台，快速搜索感兴趣的样品区域；
采用集成高压运算放大器，噪声低；
工作软件为中文Windows 98/2000/XP操作系统；
实时观测比照的形貌图、摩擦力图、相位图、静电力图、磁力图；
多通道图像同步采集显示，实时察看高度trace和retrace同时对比剖面图；
集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器，纳米表征和测量精度可达到或优于2%；
定点实时测定多种曲线功能；
设置“扫描频率安全上限”功能，可限制zei快扫描频率，保护探针；
图像获取文件连续存盘和自定义文件名，当前全部工作环境参数同步保存功能；
即使图像扫描未完成也能强制存盘，软件在线提示及过程帮助；
全功能调色板编辑器，预存20种常用的调色板数据，方便选择；
功能强大的离线图像数据分析和处理功能。

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途