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多模式扫描力显微镜(AFM)

参考报价: 面议 型号: NANOFIRST3000&3100
品牌: 暂无 产地: 暂无
关注度: 155 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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仪器简介:

NanoFirst-3000轻敲式AFM采用了增强型NanoSPM-IIIa SPM电子学控制器,在原有的NanoSPM-III SPM控制器的基础上增加了16-bit D/A通道和数字I/O接口,所有的A/D和D/A输入输出偏差和零点漂移的影响都经过自动校正消除,数字反馈采样频率高达64.0kHz。宽范围集成高压运算放大器保证了+/-170V的输出和低于3mV的噪声电平,扫描范围更大。针尖-样品有手动和自动逼近方式,轻敲分辨率0.05nm,可测量和分析频率-RMS曲线、RMS-间隙曲线、形貌像、起伏信号像、相位信号像 、静电力像、磁力像。选配液体池可在液体中进行轻敲模式成像。系统软件能工作在Win98/2000/XP环境,主机选用台式PC或笔记本电脑均可。适合于高校纳米科技教学、科学研究、纳米材料及粉体分析、电化学测量、生物制药、会议现场演示和工业现场测试,基本配置包括高分辨CCD观察系统,具有操作简便、实用性强的特点。
NanoFirst-3100型AFM还包括接触式AFM和STM的所有功能。



技术参数:

NANOFIRST-3000
标准配置技术指标
工作模式 接触模式(Contact Mode)、摩擦力/横向力模式(LFM)、F-Z模式、轻敲模式、频率-幅值(f-RMS)曲线模式、幅值-间隙(RMS-Z)曲线模式
样品要求 尺寸≤Φ30mm,厚度:≤15mm
样品移动台范围 0~5mm
分辨率 轻敲:横向0.3nm,纵向0.05nm(DNA定标)
接触:横向 0.25nm, 纵向 0.03nm(云母定标)
正弦波频率范围 3k~1000kHz
正弦波峰峰值 0~10.0V
共振峰搜索方式 人工和自动
扫描范围 6μm×6μm
扫描速率 >40000点/秒
扫描角度 0~360°
扫描偏移 任意
扫描器校正 实时非线性校正
横向测量精度 <2%
扫描区域选择 实时扫描窗口+扫描存储窗口内剪切
图像采样点 256×256或512×512
XY扫描比率 1:1,2:1,4:1,8:1
控制器反馈方式 DSP数字反馈
反馈采样速率 64.0kHz
A/D通道 1个14-bit A / D,4个独立16-bit A / D
D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A
步进马达控制 手动和全自动进退
计算机接口 USB
防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱

NANOFIRST-3100标准配置技术指标
工作模式 STM:恒流模式、恒高模式、电流-电压(I-V)隧道谱、电流-间隙(I-Z)隧道谱;
AFM:接触模式(Contact Mode)、摩擦力/横向力模式(LFM)、F-Z模式、轻敲模式、频率-幅值(f-RMS)曲线模式、幅值-间隙(RMS-Z)曲线模式
样品要求 尺寸≤Φ30mm,厚度:≤15mm
样品移动台范围 0~5mm
分辨率 STM:横向 0.1nm, 纵向0.01nm(以HOPG定标)
AFM:横向 0.25nm, 纵向0.03nm(云母定标)
轻敲:横向0.3nm,纵向0.05nm(DNA定标)
正弦波频率范围 3k~1000kHz
正弦波峰峰值 0~10.0V
共振峰搜索方式 人工和自动
扫描范围 6μm×6μm
扫描速率 >40000点/秒
扫描角度 0~360°
扫描偏移 任意
扫描器校正 实时非线性校正
横向测量精度 <2%
扫描区域选择 实时扫描窗口+扫描存储窗口内剪切
图像采样点 256×256或512×512
XY扫描比率 1:1,2:1,4:1,8:1
控制器反馈方式 DSP数字反馈
反馈模式 STM:线性和对数反馈;AFM:线性反馈
反馈采样速率 64.0kHz
A/D通道 1个14-bit A / D,4个独立16-bit A / D
D/A通道 4个独立18-bit D/A,1个16-bit D/A
步进马达控制 手动和全自动进退(STM自动保护针尖)
计算机接口 USB
防震方式 全金属屏蔽防震隔音箱



主要特点:

为科研和工业应用设计,配有专业防震箱;
DSP全数字化控制,操作简洁直观;
仅需更换探针架,即可切换STM、接触式AFM、轻敲模式;
提供实验标准光栅、云母和HOPG样品;
可组合光学连续变倍显微镜,独特的双光路照明,样品观测范围从1nm到 20mm;
可选配液体池和电化学附件;可选配单分子操纵、局域电性能测量、纳米刻蚀和加工功能;
可选配环境气氛控制设备;
配备二维样品移动平台,快速搜索感兴趣的样品区域;
采用集成高压运算放大器,噪声低;
工作软件为中文Windows 98/2000/XP操作系统,标准视窗工作界面;
多通道图像同步采集显示,实时查看高度trace和retrace同时对比剖面图;
集成扫描器硬件非线性校正用户编辑器,纳米表征和测量精度可达到或优于2%;
定点实时测试多种曲线功能;
设置“扫描频率安全上限”功能,可限制zei快扫描频率,保护探针;
慢扫描轴使轴能功能,可始终保持对同一物理扫描线进行扫描成像,易于反馈参数调整;
自定义缺省扫描参数,并可随时恢复到缺省扫描参数;
图像获取文件连续存盘和自定义文件名,当前全部工作环境参数同步保存功能;
即使图像扫描为完成也能强制存盘;易学得在线提示及过程帮助;
全功能调色板编辑器,预存20种常用的调色板数据,方便选择;
功能强大的离线图像数据分析和处理功能 。

多模式扫描力显微镜(AFM)信息由天津徕科光学仪器有限公司为您提供,如您想了解更多关于多模式扫描力显微镜(AFM)报价、型号、参数等信息,欢迎来电或留言咨询。

注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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