纳米模块 NH 随着纳米科技和薄膜技术的发展(太阳能电池,cvd、pvd、dlc、MEMS等),......
紧凑式 — 模块化 两种型号CCU-010 镀膜机提供两种款型。CCU- 010 LV低真空镀膜机,CCU- 010 HV 高真空镀膜机。采用模块化概......
紧凑式 — 模块化 两种型号CCU-010 镀膜机提供两种款型。CCU- 010 LV低真空镀膜机,CCU- 010 HV 高真空镀膜机。采用模块化概......
测量曲面样品或样品无法移动时,需要用到特殊的探头,这些探头包裹一层柔性橡胶,可以直接放到样品上面,用光纤将其与主机相连。基于不同的应用,有三个型号可选。MP-F......
MAI显微镜适配器,可与任何一台正置显微联用,将MProble系列薄膜测厚仪加到显微镜上,用于微小样品的厚度测量,包含一个200万像素CCD,可对测量区域进行成......
产品概述 MProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量,多层测量,非均匀涂层, 软件包含大量材料库(......
Map薄膜厚度测绘仪用于测量厚度分布,评价薄膜厚度的均一性,可与所有MProble系列的薄膜测厚仪联用。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:......
EC-770F涂层测厚仪,能测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等)。本仪表内置高精密探头,利用电磁感应原理,计算涂镀层厚度,并通过点......
EC-770N涂层测厚仪,能测量非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密探头,利用涡流效应,计算涂镀层厚度,并通过点阵液晶快速显示结果。C......
采用近红外光谱(NIR)的薄膜测厚仪,可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域,比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测......
大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体化合物(AlGaAs, InG......
MProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅)......
MProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如:氧化物,氮化物,光刻胶,高分子聚合物,半导体(硅,单晶硅,多晶硅),半导体......
EC-770涂层测厚仪,能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高......
当一束光入射到薄膜表面时,薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉,干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关,反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。反射光谱干......
简易涂层测厚仪Surfix® 简易系列的测量探头均由硬质合金制成,这意味着它具有几乎无限的使用寿命。前端塑料帽 设计有一个V型槽,因此其能够稳定且垂直地定位在水......
用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀以及阳氧化涂层的快速测量操作和应用范围:我们的测量仪器Surfix® Pro S 系列产品可lian接不同种类的探头, ......
电子顺磁共振波谱仪(EPR)ESR5000是一种紧凑型高性能仪器,其灵敏度和可靠性足可胜任EPR波谱领域的苛刻应用。ESR5000 EPR(电子顺磁共振)波谱技......
Itrax XRF岩心扫描分析仪(Itrax Core Scanner )——适合海洋、湖底沉积物样芯,钻探岩石岩心样品及其他树木,柱状样品的快速XRF元素分析......
S4 TStar — TXRF的明星 数十年来,X 射线荧光(XRF)光谱法在多个行业中......