ST4080-OSP（有机可焊性保护膜）专用于测量PCB/PWB上铜铂厚度。它属于使用分光反射法的非破坏性光学测量仪，它可提供平均厚度和详细的3D平面轮廓资料......
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仪器简介： 快速和低成本的薄膜成像测厚系统，zei大能够实现对直径为300mm wafer 进行测试，广泛应用于：半导体 多晶硅, GaAs, GaN, In......
产品简介： 基于视窗结构的软件，很容易操作 先进的深紫外光学及坚固耐用的抗震设计，以确保系统能发挥出zei佳的性能及zei长的正常运行时间 基于阵列设计的探测......
仪器简介：高精度，高性价比， 操作简单方便，覆盖从紫外 可见光 近红外的光谱测试范围，更有效的实现对薄膜样品的全面分析 广泛应用于： 半导体制造 (PR, O......
仪器简介：快速，易于使用，基于光谱反射,为高性价比薄膜或涂层测厚分析系统 广泛应用于： 半导体制造 (PR, Oxide, Nitride..) 液晶显示器(......
产品简介： 显微分光光度计(Micro-Photometry、Micro Spectrophotometry)是用来描述薄膜、涂层厚度超过1微米的......
产品简介： 标准模式 工业规格 适合科研中心 尺寸 500 x 610 x 640 mm 重量 ......
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