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BH Microme|x NEO 160 穿透式影像检测系统

参考报价: 面议 型号: Microme|x NEO 160
品牌: Cytiva 产地: 美国
关注度: 7 信息完整度:
样本: 典型用户: 暂无
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

phoenix最新的micromelx neo和nanomelx neo 系列产品将高分辨率的2D X射线技术和3D CT技术完美地集成于一套系统。多项独特的创新设计,以及极高的定位精度,使得这套系统成为科学研究、缺陷分析、过程和质量控制等领域可靠有效的解决方案。
 

全新钻石靶材
  1. 高输出功率以及高分辨率

  2. 在长时间使用下可以稳定焦点

  3. CT扫描速度提高2倍


FLASHTM
  1. 透过软件简军快速地进行滤波效果

  2. 将黑白对比更突显出来,有效的观察缺陷位置

 


 

 

Planar CT平面CT系统,提供切片以及整个立体结构的影像
  1. 轻瘾完成大型电路板的2D切片以及3D影像

  2. 无须裁切大型电路板,并且针对多层结构不会有重迭影像的问题


p3-5.png
左上:完成Planar CT 后,无上下重迭影像
右下:传统2D影像,影像重迭较难分析

 

标准CT计算机断层扫描
  1. 高解析CT隐用,可以找出半导体封装常见缺陷

  2. CT影像适合针对RD硏究分析或是缺陷样品进行细微分析与观察

  3. 最低voxel size可达2um, 特殊条件下可以更低


打线影像



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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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