INSTEMS-M透射电子显微镜原位-原子尺度双倾力学测试系统

INSTEMS系列为用户提供了7种原位TEM实验平台。其中包含三种单外场施加平台，三种双外场耦合平台和一种三外场耦合平台。三种单外场产品为INSTEMS-M（力学加载）、INSTEMS-E（电学加载）和INSTEMS-T（热场加载）；三种双外场耦合产品为INSTEMS-ME（力电耦合）、INSTEMS-TE（热电耦合）和INSTEMS-MT（力热耦合）；一种三外场耦合产品为INSTEMS-MET（力热电耦合）。

产品介绍：

BST-INSTEMS-M使用的MEMS集合精密的芯片结构与压电驱动器，力学加载方向与双倾台平面平行。高精度力学驱动（0.1nm等级驱动）与双倾系统互不干扰，能在力学加载的同时稳定的观察高质量原子尺寸的像。另外，可根据客户需求配置不同结构的芯片，满足不同尺寸形状不同加载模式力学实验要求。

突出优势：

1、多种力学加载模式：

拉伸/压缩/压痕/弯曲/冲击/蠕变/疲劳 

自动/手动/循环加载 

牛顿级驱动器(> 100 mN)    

pm级驱动控制 

2、双轴倾转：

α 轴倾转最高至±20°     

β 轴倾转最高至±10°

3、稳定的原子尺度成像：

极限样品漂移＜50 pm/s

空间分辨率≤0.1 nm

技术指标

应用领域 

高强钢

纳米线 

高强铝合金 

钛合金

纳米薄膜

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途