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半导体器件缺陷检测YTS500超声扫描显微镜

参考报价: 面议 型号: YTS-500
品牌: 上海思为 产地: 浙江
关注度: 62 信息完整度:
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AI问答
可以做哪些实验,检测什么? 可以用哪些耗材和试剂?

发布时间:2022年05月

 半导体器件缺陷检测YTS500超声扫描显微镜由宁波森泉科技有限公司182 4481 8810编辑,


YTS500超声扫描显微镜应用:

一 IC塑料封装:集成电路行业检测
1.自动识别封装缺陷
2.封装分层检测
3.封装内部结构、断层检测
二 功率电子器件塑料封装
1.分层,空洞检测
2.封装分层检测
三 功率电子装片、粘片、连续炉焊
1 焊接空洞 压片翘片、面包片、硅片裂纹
2.粘片质量检测
3.热沉焊接质量检测
四 金刚石材料缺陷检测

五 熔断器焊接点检测铜箔与黄铜的点焊

六 复合材料内部气孔断层检测

YTS500超声扫描显微镜.jpg

应用领域:

高效率—— 根据20/80原则,车间现场80%的批量工件仅需做常规快速抽检,不需要做详细分析,因此可以使用400机型达到快速检测。用于半导体、集成电路、低压电器等行业的生产线的制程管控。适用于车间现场或小型理化实验室。


产品参数
1、工作电源:220V/50Hz,1KW;

2、最大扫描范围:手动:260mm×100mm×50mm;自动:260mm×25mm×50mm

3、整机尺寸:800mm×600mm×13000mm;(标配)

4、水槽尺寸:380mm×240mm×110mm

5、探头频率范围:1~50MHz;(标配,可升级至230MHz);
6、推荐图像分辨率:0.5um ~ 4000um;
7、典型扫描耗时:<45s (测试条件:扫描区域10mmX10mm,分辨率50um);
8、最大扫描速度:300mm/s;最大扫描加速度:5m/s²;
9、运动台定位精度:X/Y向<±1um,Z向<±10um;重复定位精度:X/Y向<±0.01mm,Z向<±0.02mm。
10、采样频率:25~250MHz;(标配,可升级至1.5GHz);
11、每通道可调增益:-13~66dB;(标配,可升级);

12、脉冲重复频率:5kHz;(标配,可升级)。



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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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