原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力，热，光，电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。

原位MEMS-TEM-STM多场测量系统（非定量力+电+光+加热）是一种革命性的原位透射电子显微镜实验系统，使研究者可以在透射电子显微镜中构建一个可控的多场环境（包括力，热，光，电等），从而对材料或者器件等样品实现多重激励下的原位表征。

光纤指标

●多模光纤外径250um，保证电镜系统真空指标;

●可选光纤探针、平头光纤;

●配备快速SMA接头、FC接头。

加热指标

●温度控制范围：室温至1000℃；

●温度准确度：优于5%；

●温度稳定性：优于±0.1℃。

产品特色

●可通过简单更换MEMS芯片种类以及不同STM探针为样品施加四种激励，实现多种复杂的测试功能，完成以往无法实现的研究；

●高温拉伸/压缩 (加热芯片+电学STM探针) ;

●热电子发射/场发射 (加热芯片+电学STM探针) ;

●三端器件测量 (电学芯片+电学STM探针) ;

●电致发光现象研究 (电学芯片+光学STM探针) ;

●光电现象研究 (电学芯片+光学STM探针) 。

应用领域





部分国内用户

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途