XEMIS磁悬浮吸附、解析分析仪

描述：XEMIS是一款高精度吸附式微量天平，适用于极端环境下的精密称量。

英国Hiden公司生产的XEMIS磁悬浮天平（Magnetic Suspension Balance）使用Hiden独特的外部感知技术(Exosensing Technology)，把敏感组件置于天平室外部，以防止对天平的污染或腐蚀。

特点

·XEMIS可作为一个独立的天平使用

·所包含Hiden Isochema控制软件，能记录动力学数据与吸附性能，也可以与客户现有的气体输送系统联用。

·可配备吸附研究的自动化气体输送系统，从而转为全自动吸附仪使用。

·在一个温度范围内，可以对不同的吸附物进行多个等温线编程和自动测量。

·无需重新归零或原位校准

·全金属结构由高品质的VCR装配

·模块化设计，与所有配件兼容且可升级

·单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

·独特设计的微量天平横梁安置在由金属VCR密封的低容室内

·对称设计的流量和浮力补偿

·用于腐蚀性气体测量时与其它磁悬浮天平所测试的气体和蒸气兼容

参数 

·最大操作压力：      200bar

·大容量微量天平：   5g

·分辨率：               0.2μg

·长期稳定性：        ±5μg

·宽动态称量范围：  0-200mg 

XEMIS是一款高精度的吸附微量天平，用于极端环境下的精密测量。它可作为微量天平单独使用，也可作为完整的吸附分析仪器。XEMIS有着出色的灵活性以及卓越的称量精度和稳定性。

• XEMIS微量天平采用了Hiden Isochema特有的外部感知技术，可在高温、高压条件下进行重量吸附分析，也可与其他商业化的吸附微量天平仪器联用。

产品特点

• 外部感知技术，把敏感元件置于天平室外部，允许腐蚀性和易燃气体的操作

• 几何对称、精密设计的微量天平

• 内部容积最小化

• 大容量微量天平（5克），分辨率0.2μg和长期稳定性±5μg

• 宽动态称量范围（0-200毫克）

• 操作压力高达200bar

• 单独的反应器可进行从77 K到773 K的全温度范围测量

• 无需重新归零或原位校准

• 采用IGA特有的终点预测方法

• 全金属结构由高品质的VCR装配

• 模块化设计，与所有配件兼容且可升级

产品应用
XEMIS的应用领域:

• 气体吸附分析

• 等温线的测定

• 动力学分析

• 热力学研究

• 储氢

• 甲烷存储

• 二氧化碳封存

• 气体的分离与纯化

• 超临界气体吸附

• 页岩气和煤层沼气研究

• 离子液体中的气体溶解度测量

• 化学吸附研究

• 化学反应的研究 (例如 氧化/氮化)

• 金属有机骨架(MOFs)/多孔配位框架

• 活性炭、碳分子筛和模板碳

• 沸石和沸石类物质

• 多孔聚合物

该XEMIS可广泛应用于不同的吸附气体。如有具体要求请与我们联系。

XEMIS磁悬浮吸附、解析分析仪信息由北京英格海德分析技术有限公司为您提供，如您想了解更多关于XEMIS磁悬浮吸附、解析分析仪报价、型号、参数等信息，欢迎来电或留言咨询。

注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途