技术特点
【技术特点】-- XRF8 全反射X射线荧光分析仪
主要特点:
多元素同时分析:一次可分析近30种元素
检出限低:zei低绝对检出限:pg级(10-12g)
zei低相对检出限:ng/mL级(10-9g))
测量元素范围广:可以从11号元素Na到92号元素U
样品用量少:μL、μg级。粉末样品、悬浮液样品、有平面的固体都可直接进行分析,zei低检出限达到ng/g量级。可以进行无损分析,也可进行无标样分析:
测量时间短:一般在100秒~1000秒
输入功率小于500W
自动化程度高,操作方便
【技术特点对用户带来的好处】-- XRF8 全反射X射线荧光分析仪
【典型应用举例】-- XRF8 全反射X射线荧光分析仪
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经销商
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X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)
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