X-射线安全性:X-射线辐射≤1 μSv/hr ,在0.1 m距离安全测试中,使用X射线传感器
FEG探针电流:探针电流在1nm点尺寸,X-FEG:>1.2nA
信息限制:≤ 0.23 nm,在零试样倾斜时;≤ 0.34 nm,在 -70度 和 +70度 试样倾斜时
Thon 圆环:在超出2.7 nm-1空间频率 (对应于 0.37 nm分辨率)时, 在-2 μ m 离焦的Ptlr样品图像的旋转平均功率谱内,Thon圆环可见
样品交换后漂移:交换后zei大漂移值:
5 min: 1.2 nm/s (LM 概览)
15 min: 0.45 nm/s (目标区)
30 min: 0.25 nm/s (开始断层成像)
60 min: 0.05 nm/s (开始EPU)
自动加载性能:以下过程应无错误地运行: 4 盒磁带中的每一个都装满 6 AutoGrids 并停靠。接下来, 将进行清点, 并将每个 AutoGrid 加载到该列中一次。
STEM分辨率(选项):< 0.23 nm
断层扫描 (选项):
重现性X, Y ≤ 0.4 um 期间α倾斜从-70度 到 + 70度
Eucentricity X, Y ≤ 2 um 在α倾斜期间从-70度 到 + 70度
Eucentricity 散焦≤ 4 um 在α倾斜期间从-70度 到 + 70度
EPU(选项):示例数据组为15张图像,显示正确的目标区域被成像了
除厂家/中国总经销商外,我们找不到 Talos Arctica G2冷冻透射电子显微镜 的一般经销商信息,有可能该产品在中国没有其它经销商。
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