北京工业大学 TEM
FIB（聚焦离子束）技术应用实验室
纳瑞科技(北京)有限公司(Ion Beam)成立于2006年，是由在聚焦离子束(扫描离子显微镜)应用技术领域有多年经验的技术骨干创立而成。我们为集成电路设计和制造工业，光电子工业，纳米材料研究领域提供一流的分析技术服务。我们特别专注于离子束应用技术在 IC芯片修改以及失效分析领域的技术应用及拓展。
测试服务：IC芯片电路 截面分析 探针测试点 FIB透射电镜样品制备
应用方向：FIB 聚焦离子束 集成电路 光电子材料 IC芯片 纳米材料
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