X荧光光谱仪应用于地球化学样品的成分分析
随着地球勘查工作的发展和区域地球化学调查工作的启动,对地质实验测试分析工作提出很多针对性要求,同时也面临着复杂的分析检测任务.地质实验室分测试析的对象和任务要求分析测试方法具有检出限低,检测范围宽,较高的准确度和精密度.地球化学样品的成分分析方法有传统的化学分析法,电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES),电感耦合等离子体质谱(ICP-MS),原子吸收光谱(AAS),X射线荧光光谱(XRF)法等.
化学分析法虽然使用仪器简单,但对操作技术的要求高,操作比较繁琐,使用大量的酸碱等化学试剂,分析流程较长,很难满足日常生产的需求.同样ICP-AES,ICP-MS,原子吸收光谱法在样品前处理过程中也常用大量化学试剂,造成环境污染.
具有样品前处理简单,分析周期短,重现性好,可同时测定多元素,测试成本低等优点.由于XRF是表面分析技术,X射线的强度随着样品的粒度和样品不均匀而变化产生颗粒效应,地质化探样品成分复杂,组分含量低,样品很难磨碎到500目以下,在粉末压片XRF法中影响了测定的准确度和精密度.因此我们通过玻璃熔片法很好的解决了基体效应及矿物效应对测试的干扰，获得了良好的检测准确度和检出限。
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