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BCEIA 2015 HORIBA SZ-100纳米颗粒分析仪
分析测试百科网讯 2015年10月26日，第十六届北京分析测试学术报告会暨展览会（BCEIA 2015）于北京国家会议中心举办。本届展览会共有461家展商参加，展出当今国内外分析测试领域的前沿技术和先进仪器设备，分析测试百科网对流变仪、热分析仪、粒度仪等部分优秀物性检测分析仪器进行了盘点。
HORIBA SZ-100纳米颗粒分析仪
SZ-100是HORIBA此次参展的一款纳米颗粒分析仪。SZ-100集三种分析功能于一体，粒径测量（范围0.3nm-8μm），Zeta电位测量（范围-200~200mv），分子量测量（范围1×103~2×107）。可应用于纳米颗粒，胶体，乳液以及亚微米悬浮液等多种样品。
优势特点：
宽检测范围，宽浓度范围
双光路双角度粒径测量（90° 和173°）
多重粒径测量模式用于小颗粒和微弱散射光
用于粒径和zeta电位检测的微量样品池
自动滴定仪：可用于zeta电位测量过程中pH值的自动滴定
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