2016北京光谱技术交流会召开 探讨布鲁克X射线新产品新技术
分析测试百科网讯 2016年2月26日，北京理化分析测试技术学会、布鲁克（北京）科技有限公司组织召开北京光谱技术交流会。布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。来自科研院所、实验室的70余人参与了此次会议。
光谱技术交流会现场
首钢北京冶金研究院 郑国经教授
首钢北京冶金研究院的郑国经教授出席会议并致辞。
布鲁克公司 杨宁
布鲁克公司杨宁主持会议并介绍了布鲁克公司及相关产品。
会议现场，布鲁克德国专家及国内的应用工程师，全面介绍了布鲁克光谱的X射线衍射/荧光新产品，新技术。
布鲁克德国专家Lutz Bruegemann（左）和Arnt Kern（右）
布鲁克公司AXS公司XRD市场经理Lutz Bruegemann博士和Arnt Kern博士两位德国专家分别做了题为《D8 ADVANCE X-Ray Diffration Solutions for all Applications》和《The New TOPAS V5》的报告，对布鲁克D8 ADVANCE X射线衍射仪和TOPAS进行介绍。
布鲁克公司的D8 ADVANCE X射线衍射仪，采用创造性的达芬奇设计，通过TWIN-TWIN光路设计，实现了BB聚焦几何下的定性定量分析和平行光几何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自动切换，而无需对光。通过TWIST TUBE技术，使用户可以在1分钟内完成从线光源应用（常规粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到点光源应用（织构、应力、微区）的切换。
TOPAS全称TOtal Pattern Analysis Solutions，提供全模式分析解决方案。TOPAS V5应用程序的新功能，可进行定量分析、结构分析、显微组织分析，用于常规应用也有一些新功能，还有TOPAS“COD数据库”。 Arnt Kern还提到，布鲁克将在2016年推出TOPAS V6，“New in TOPAS V6: Structure determination and refinement from PDF data.”其最大特点是从PDF数据测定和细化结构。
布鲁克国内应用工程师
布鲁克应用工程师朱性齐的报告题目为《材料中的纳米沉积或孔洞的SAXS分析》，在报告中对SAXS技术、材料中的纳米沉积或孔洞的SAXS分析进行介绍。SAXS可以起应用在MgZn2、Ni基高温合金-富集相分析、介孔材料、薄膜中的取向孔洞等，还可用于液晶结构分析、蛋白结构分析，目前这方面应用在国内还不多见。
XRD应用工程师王通介绍了《XRF元素分析对XRD物相鉴定的帮助》。XRD和XRF都是有效的材料表征手段；结合XRF的结果，XRD能够更加快速准确的确定未知物相。反之，也可以起验证元素分析结果；结合XRF定量分析结果，有时可以验证XRD物相定量分析结果的准确性。
Micro CT应用工程师王金波介绍了《透视材料3D结构的无损探测手段Micro/Nano CT》。Micro/Nano CT硬件参数包括射线源、探测器、分辨率、扫描样品尺寸、高精密空气轴承转台、辐射安全等。软件：控制程序、重构软件、可视化/协同对比、定量分析、3D体渲染、3D面渲染。应用在天然材料、人工合成材料、工业产品以及其他材料。
