JJG 629-1989
多晶X射线衍射仪检定规程
Verification Regulation for Polycrystalline X-Ray Diffractometer
JJG 629-1989相似标准
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X射线衍射仪角度校准的光学新方法
目前X射线衍射仪(XRD)的角度检定和校准测试主要依据JJG 629—1989《多晶X射线衍射仪检定规程》和JB/T 9400—2010《X射线衍射仪技术条件》等技术文件,具体方法是采用光学经纬仪或多面棱体等进行测试,该测量方法实际应用中存在一定难度,其次测量间隔较大,不能很好反映真实的角度误差规律.为此,提出了利用θ角和2θ角同轴并可独立运动的特点,组合采用光电自准直仪和小角度激光干涉仪等仪器...
《多晶X射线衍射技术与应用》-11（第3章 多晶X射线衍射仪）
上一篇文章内容回顾：《多晶X射线衍射技术与应用》-10（第3章 多晶X射线衍射仪）3.1.3 X射线源1. 衍射仪器对X射线源的要求X射线源的尺寸与衍射图案的清晰程度直接有关。一般光源尺寸越细小，所得衍射图案也越清晰，有更高的图谱的分辨率。光源的强度与衍射峰的强度成正比，强度越高，强度测量的精度就越高，在一定计数强度的前提下，所需实验时间就比弱光源用得少。...
《多晶X射线衍射技术与应用》-10（第3章 多晶X射线衍射仪）
今天的多晶衍射仪已经发展成为一种使用广泛、操作简便的精密仪器，是目前研究粉末X射线衍射的最常用而又最方便的设备，是记录粉末衍射图谱的基本仪器。以“X射线衍射仪”为关键词上网搜索，即可检索到当前市场上诸多型号的多晶X射线衍射仪。多晶X射线衍射仪的成熟，Parrish和他的同事的基础工作功不可没[2]。在上世纪70年代多晶衍射仪已被当时的JCPDS（即现在的ICDD）列为收集粉末衍射图谱的标准设备。...
《多晶X射线衍射技术与应用》-12（第3章 多晶X射线衍射仪）
上一篇文章回顾：《多晶X射线衍射技术与应用》-11（第3章 多晶X射线衍射仪）3.2 X射线多晶衍射仪3.2.1 X射线多晶衍射仪的构成X射线多晶衍射仪由X射线发生器、测角仪和样品台、X射线强度测量系统以及衍射仪控制与衍射数据采集、处理系统四大部分组成。图3.18示出了多晶衍射仪构成的方块图。此外，还有多种多样的样品台附件，可以实现在特殊条件下样品多晶衍射谱的研究。...