JJG 629-1989
多晶X射线衍射仪检定规程

Verification Regulation for Polycrystalline X-Ray Diffractometer

JJG 629-1989 中，可能用到以下耗材

 

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

赛默飞实验室耗材产品

 

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

赛默飞实验室耗材产品

 

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

赛默飞实验室耗材产品

 

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

赛默飞实验室耗材产品

 

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

赛默飞实验室耗材产品

 

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

WYPALL* X系列通用工业擦拭布

赛默飞实验室耗材产品

 

6500系列精确质量数Q-TOFLC/MS备件

6500系列精确质量数Q-TOFLC/MS备件

北京携测技术有限公司

 

D3178-02 钢制精确数显卡尺

D3178-02 钢制精确数显卡尺

上海阿拉丁生化科技股份有限公司

 

依利特Si60色谱柱

依利特Si60色谱柱

大连依利特分析仪器有限公司

 

SZ-22单面可调狭缝

SZ-22单面可调狭缝

安合盟（天津）科技发展有限公司

 

10-425 黑色 键合 瓶盖 含 (带狭缝)

10-425 黑色 键合 瓶盖 含 (带狭缝)

上海安谱科学仪器有限公司

 

9-425 灰色 BONDED 瓶盖 W/ 带狭缝

9-425 灰色 BONDED 瓶盖 W/ 带狭缝

上海安谱科学仪器有限公司

 

JJG 629-1989

标准号
JJG 629-1989
发布日期
1989年
实施日期
1990年06月15日
废止日期
2014-12-15
中国标准分类号
A61
发布单位
CN-JJG
代替标准
JJG 629-2014

JJG 629-1989 中可能用到的仪器设备

折光仪(折射仪) X射线衍射仪(XRD) 光纤光谱仪 ICP-MS 核磁共振波谱仪 扫描探针/原子力显微镜SPM/AFM X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪） 其它光学测量仪 同位素质谱仪 气质联用仪 电镜制样设备 X射线(衍射)仪/能谱仪部件及外设 X射线显微镜 X射线散射仪 X射线能谱仪(EDS) X射线实时成像检测系统 温湿度计、湿度发生器 X射线探伤机、X射线探伤仪 工业CT 基因/DNA测序仪 PM2.5/PM10/PM1/TSP环境大气颗粒物监测仪 测油仪/油分浓度仪 粉尘测定仪/粉尘仪

谁引用了JJG 629-1989 更多引用

SN/T 3013-2011 铜精矿与铜熔炼渣的鉴别规程 DL/T 1151.22-2012 火力发电厂垢和腐蚀产物分析方法.第22部分：X-射线荧光光谱和X-射线衍射分析


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