图2 发明专利证书方案优势该方法具有专用算法修正镀层对基体组成元素的影响、含镀层贵金属直接测试(无需打磨破坏)、一次分析可以得到镀层厚度和基材元素成分的可靠结果、分析速度快、分析成本低的优点。图3 不同方法分析误差比较(数据来源于本公司)案例分享贵金属首饰成分分析GB/T 18043-2013《首饰贵金属含量的测定 X射线荧光光谱法》是贵金属首饰成分分析的标准依据。...
由于X荧光的无损分析方法,同时仪器高度的自动化控制技术,保证测试中可以进行连续多点测量,不但提高测试效率,同时可以分析测试样的厚度分布情况。 6、对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别,即,每层样品元素有明显的差别。 由于X荧光是通过特征X射线,对被测样品进行厚度分析的,因此每层镀层的材料应有明显的区别。 ...
X荧光测厚仪又称X射线荧光测厚仪,主要用于精密测量金属电镀层的厚度。 X荧光镀层测厚仪工作原理:通过高压产生电子流打入到X光管中靶材产生初级X光,初级X光经过过滤和聚集射入到被测样品产生次级X射线,也就是我们通常所说的X荧光,X荧光被探测器探测到后经放大,数模转换输入到计算机。计算机计算出我们需要的结果。...
X射线金属镀层测厚仪,X射线经过镀层界面,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。测试镀层厚度要考虑镀层材质和镀层密度等因素,如果各因素都不确定是无法分析的。...
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