可能引起的故障模式,及失效分析:电气过应力(Electrical Over Stress,EOS)是一种常见的损害电子器件的方式,是元器件常见的损坏原因,其表现方式是过压或者过流产生大量的热能,使元器件内部温度过高从而损坏元器件(大家常说的烧坏),是由电气系统中的脉冲导致的一种常见的损害电子器件的方式。...
元器件材料电子制造质量分析拥有完整的元器件检测、筛选、鉴定、失效分析(FA)和破坏性物理分析(DPA)仪器设备资源,可为企业提供元器件DPA、批次筛选、鉴定以及失效器件的失效机理分析提供完整的服务,帮助企业把控和提高上机元器件质量水平和通过查找失效根因提高整机可靠性水平。 ...
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