EJ/T 1184-2005
贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定

Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method


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EJ/T 1184-2005



标准号
EJ/T 1184-2005
发布日期
2005年04月11日
实施日期
2005年07月01日
废止日期
中国标准分类号
F46
国际标准分类号
27.120.30
发布单位
CN-EJ
适用范围
本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。 本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定,其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。 当取祥量为0.25g四氟化铀时,硅的测定范围为:(10~120)μg/g。在测量范围内,40μg磷、3μg耐不干扰硅的测定。

EJ/T 1184-2005 中可能用到的仪器设备





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