EJ/T 1184-2005
贫化四氟化铀中微量硅的分光光度法测定
Determination of micro silicon in depleted uranium tetrafluoride by spectrophotometric method
EJT1184-2005, EJ1184-2005
- 标准号
- EJ/T 1184-2005
- 别名
- EJT1184-2005, EJ1184-2005
- 发布
- 2005年
- 发布单位
- 行业标准-核工业
- 当前最新
- EJ/T 1184-2005
- 适用范围
- 本标准规定了分光光度法测定贫化四氟化铀中微量硅的方法原理、试剂、仪器、分析步骤、结果计算和方法的精密度。 本标准适用于贫化四氟化铀中微量硅的测定，其它丰度的四氟化铀中微量硅的测定可参照使用。 当取祥量为0.25g四氟化铀时，硅的测定范围为：(10～120)μg/g。在测量范围内，40μg磷、3μg耐不干扰硅的测定。
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