KS C IEC PAS 62164-2003(2008)
GAA MMIC和FET寿命测试指南

Guidelines for GaAs MMIC and FET life testing

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KS C IEC PAS 62164-2003(2008) 发布历史

KS C IEC PAS 62164-2003(2008)由韩国科技标准局 KR-KATS 发布于 2003-03-25。

KS C IEC PAS 62164-2003(2008)在国际标准分类中归属于: 31.080.01 半导体器分立件综合。

KS C IEC PAS 62164-2003(2008)的历代版本如下：

• 0000年 KS C IEC PAS 62164-2003(2008)
• 2003年 KS C IEC PAS 62164:2003 GaAs MMIC和FET寿命试验导则

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标准号

KS C IEC PAS 62164-2003(2008)

发布

2003年

发布单位

韩国科技标准局

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