由波长色散X射线荧光法测定某陶瓷原料化学成分的结果见表3。表3 波长色散X射线荧光法测定陶瓷原料化学成分(%)由表3可知,波长色散X射线荧光测定成分时,重复性较好。无论是主量元素,还是微量元素,其结果都比较满意。能量色散X射线荧光测定成分时,重复性也较好。但是所检测的样品范围比较窄,如石英、钾长石、钠长石、高岭土样品能迅速测定,结果较满意。混合样品的检测偏差比较大。...
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在半导体材料方面,微探针和同步辐射技术为掺杂元素的行为研究提供 了新的方法:在考古方面应用微区能量色散x射线荧光元索成像法测定陶瓷中重金属元素;在地质学方面,应用x射线荧光光谱(XRF)微区分析技术分析陨石;应用微束X射线荧光微区测定了铀矿石;应用微束微区X荧光探针分析仪检测心矿石内的矿物颗粒。 研究内容既有定性描述(绘制待测组分测区分布图),也有定量分析。...
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