静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
飞行时间二次离子质谱仪(TOF-SIMS)介绍美信检测失效分析实验室 【摘要】飞行时间二次离子质谱仪(Time FlightSecondary Ion Mass Spectrometry, TOF-SIMS)是一种非常灵敏的表面分析技术,通过用一次离子激发样品表面,打出极其微 量的二次离子,根据二次离子因不同的质量而飞行到探测器的时间不同来测定离子质量,具 有极高分辨率的测量技术。...
飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS) 在此类质谱仪中,二次离子被提取到无场漂移管,二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比,因此它的飞行时间会相应不同,较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子,并具有极佳质量分辨率。...
此时,再通过调低1次离子的照射量,检测保留了表面成分化学结构的分子离子和部分碎片离子,就可以获取最表层的元素构成和化学结构的信息。飞行时间(TOF型)质谱仪由于脉冲后1次离子的照射而产生的2次离子在一定能量下被加速,根据质量不同以不同速度(轻离子高速,重离子低速)进入质谱仪。达到检测器的时间(飞行时间)与质量有着函数关系,通过精密测定此飞行时间的分布可以获取质谱。 ...
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