静态二次离子质谱法中相对强度范围的重复性和稳定性 英国标准学会,关于质谱中相对强度的标准 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 17862-2013 表面化学分析.次级离子质谱法.单离子计数飞行时间质量分析器强度标的线性 BS ISO 23830-2008 表面化学分析.次级离子质谱法.静态次级离子质谱法中相对强度数值范围的重复性和稳定性...
secondary ion mass spectrometry)和时间飞行二次离子质谱法(TOF seoondary ion mass spectrometry)。...
飞行时间二次离子质谱法Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry :TOF-SIMS原理超真空环境下向样品射入1次离子束,从样品的浅表层(1~3nm)释放出2次离子。将2次离子导入飞行时间(TOF型)质谱仪,就可以获得样品最表层的质谱。...
飞行时间二次离子质谱仪(ToF-SIMS) 在此类质谱仪中,二次离子被提取到无场漂移管,二次离子沿既定飞行路径到达离子检测器。由于给定离子的速度与其质量成反比,因此它的飞行时间会相应不同,较重的离子到达检测器的时间会比较轻的离子更晚。此类质谱仪可同时检测所有给定极性的二次离子,并具有极佳质量分辨率。...
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