非常抱歉,我们暂时无法提供预览,您可以试试: 免费下载 BH GSO ISO 11039:2015 前三页,或者稍后再访问。
您也可以尝试购买此标准,
点击右侧 “立即购买” 按钮开始采购(由第三方提供)。
在2006年,他向国际标准化组织ISO/TC201(表面化学分析技术委员会)提出了“扫描探针显微镜漂移速率测量方法标准”的提案,目的是要将SPM工作时纳米/秒的漂移大小和方向测量出来,以规范这类仪器的使用方法。2007年该提案正式立项,黄文浩教授被指定为该项目工作组的召集人。经过四年多的努力,SPM漂移测量方法标准的最终草案于2011年经全体成员国投票后顺利通过,并于2012年正式发布。 ...
该方法的优点在于:在不增加硬件投入的情况下,表面电势能的测量范围增加了;使得静电力显微镜(EFM)的相角测量和表面势能测量功能在同一个工作模式下进行,减少了探针起落容易引起的漂移、定位不准等问题;通过数学拟和得到特征曲线参数,在表面势较大时,可以估算出表面势大小。这些实验方法扩展了扫描探针显微镜在研究材料电特性的应用领域,为深入研究纳米电介质材料提供了更丰富的手段。...
就测量表面形貌而言,扫描隧道显微镜和原子力显微镜(AFM,Atomforcemicroscope)zui为人们熟悉和掌握。扫描探针显微测量方法是扫描测量,zui终给出的是整个被测区域上的表面形貌。SPM测量精度高,纵向及横向分辨率达原子量级,但是其测量范围较窄,同时操作较复杂。因此SPM常适合于测量结构单元在nm量级、测量区域为m量级的微结构。...
就测量表面形貌而言,扫描隧道显微镜和原子力显微镜(AFM,Atomforcemicroscope)最为人们熟悉和掌握。扫描探针显微测量方法是扫描测量,最终给出的是整个被测区域上的表面形貌。SPM测量精度高,纵向及横向分辨率达原子量级,但是其测量范围较窄,同时操作较复杂。因此SPM常适合于测量结构单元在nm量级、测量区域为m量级的微结构。...
Copyright ©2007-2022 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号 京公网安备1101085018 电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号