ISO 11039:2012
表面化学分析.扫描探针显微镜.漂移率的测定标准
Surface chemical analysis - Scanning-probe microscopy - Measurement of drift rate
- 标准号
- ISO 11039:2012
- 发布
- 2012年
- 发布单位
- 国际标准化组织
- 当前最新
- ISO 11039:2012
- 引用标准
- ISO 18115-2
- 适用范围
- 本国际标准定义了表征扫描探针显微镜 (SPM) 仪器在 X 和 Y 方向上的漂移率的术语并规定了测量方法，以及对于测量形貌的 SPM 仪器在 Z 方向上的漂移率。 尽管长期漂移率的行为可能是非线性的，但长期漂移率的行为以及用户定义的稳定时间之后的短期漂移率的行为都可以通过典型平均漂移率或典型最大漂移率来表征。 本国际标准适用于基于SPM图像评估漂移率。 它旨在帮助制造商以有意义且一致的方式引用规格中的漂移数据，并帮助用户表征漂移行为，以便设计有效的实验。 这些测量并不是为图像校正而设计的。
ISO 11039:2012相似标准
推荐
“扫描探针显微镜漂移测量方法”国际标准发布
在2006年，他向国际标准化组织ISO/TC201（表面化学分析技术委员会）提出了“扫描探针显微镜漂移速率测量方法标准”的提案，目的是要将SPM工作时纳米/秒的漂移大小和方向测量出来，以规范这类仪器的使用方法。2007年该提案正式立项，黄文浩教授被指定为该项目工作组的召集人。经过四年多的努力，SPM漂移测量方法标准的最终草案于2011年经全体成员国投票后顺利通过，并于2012年正式发布。 ...
扫描隧道显微镜怎样操纵原子
它优越之处在于纳米尺度上的立体分辨能力；磁性：磁力共振显微镜MFMMFM可以给磁域成像作为磁存储介质的综合性表征，MFM测定核与电子的自旋共振并具有亚微米级的解析力，这可能使它成为化学分析的基础；电荷传递和亥姆霍兹层：扫描电化学SECM生物分子折叠/识别：纳米机械显微镜以前只能停留在总体的平均测定，现在可以更深入的测定生物系统的分子现象。...
扫描探针显微技术有哪些？
扫描探针显微技术主要是利用顶端约1-10Å的探针来3D解析固体表面纳米尺度上的局部性质。扫描探针显微镜SPMs就是一系列的基于扫描探针显微术而发展起来的显微镜，它包括STM、AFM、LFM、MFM等等。...
为什么扫描隧道显微镜不能用于非导体？
如果在样品表面覆盖导电层，则由于导电层的粒度和均匀性等问题又限制了图象对真实表面的分辨率。宾尼等人1986年研制成功的AFM可以弥补扫描隧道显微镜(STM) 这方面的不足。...
ISO 11039:2012 中可能用到的仪器设备
谁引用了ISO 11039:2012 更多引用
ISO 11952:2019 表面化学分析.扫描探针显微镜.用SPM测定几何量:测量系统的校准
BS ISO 19606:2017 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 采用原子力显微技术的精细陶瓷薄膜表面硬度试验方法
ISO 19606:2017 精细陶瓷(高级陶瓷, 高级工业陶瓷). 采用原子力显微技术的精细陶瓷薄膜表面硬度试验方法
ISO/TR 18196:2016 纳米技术. 纳米物质特性描述的测量技术矩阵
BS ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
ISO 13095:2014 表面化学分析. 原子力显微镜学. 纳米结构测量用AFM探针柄轮廓的现场鉴定程序
ISO 11952:2014 表面化学分析. 扫描探针显微镜. 使用SPM测定几何量:测量系统校准