YS/T 1290-2018由工业和信息化部 发布于 2018-10-22,并于 2019-04-01 实施。
YS/T 1290-2018 在中国标准分类中归属于: H17 半金属及半导体材料分析方法,在国际标准分类中归属于: 77.040 金属材料试验。
半导体纳米粉体材料紫外-可见漫反射光谱的测试方法2018-12-2815GB/T 37182-2018气体分析 等离子发射气相色谱法2019-11-0116GB/T 37185-2018气体分析 室内挥发性有害有机物的测定 “SUMMA罐-硅烷化管”采样气相色谱/质谱联用(GC/MS)法2019-11-0117GB/T 37186-2018气体分析 二氧化硫和氮氧化物的测定 紫外差分吸收光谱分析法...
2021-04-0156 YS/T 1392-2020氯硅烷组分含量的测定 气相色谱法 本标准规定了气相色谱法测定多晶硅生产用氯硅烷中各组分含量的方法。 本标准适用于多晶硅生产用氯硅烷中各组分含量的测定。测定范围(体积分数):二氯二氢硅为0.01 %~20 %,三氯氢硅、四氯化硅为0.01 %~100 %。...
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