IEC 61338-1-5:2015
波导型介质谐振器 - 第1-5部分:一般信息和测试条件 - 微波频率下导体层和介质基板之间的界面处的电导率测量方法
Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave
- 标准号
- IEC 61338-1-5:2015
- 发布
- 2015年
- 发布单位
- 国际电工委员会
- 当前最新
- IEC 61338-1-5:2015
- 适用范围
- 微波电路通常形成在多层有机或无机基板上。在微波电路中，平面传输线（例如带状线@微带线@和共面线）的衰减由它们的导体损耗@介电损耗和辐射损耗决定。其中导体损耗是平面传输线衰减的主要因素。本文件标准化了一种新的测量方法，用于评估有机@陶瓷和LTCC（低温共烧陶瓷）基板等基板上或基板内传输线的电导率。本标准描述了导体层与介质基板之间界面电阻和有效电导率的测量方法，称为界面电阻和界面电导率。该测量方法具有以下特点： 界面电阻Ri是通过测量图2所示的TE01模式介质棒谐振器的谐振频率f0和空载品质因数Qu得到的。 ?C 界面电导率 ??相对界面电导率 ??i = ?? / ??根据测量的 Ri 值计算@ 其中 ?? = 5@8 ?? 107S/m是标准铜的电导率； ?C ??i (?????i) 的测量不确定度小于5%。
IEC 61338-1-5:2015相似标准
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