PAS 61338-1-5-2010
波导型介质谐振器 第1-5部分：一般信息和测试条件 微波频率下导体层与介质基片界面电导率的测量方法（1.0版）

Waveguide type dielectric resonators – Part 1-5: General information and test conditions – Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency (Edition 1.0)

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标准号

PAS 61338-1-5-2010

发布

2010年

发布单位

IEC - International Electrotechnical Commission

 

 

适用范围

微波电路通常形成在多层有机或无机基板上。在微波电路中，平面传输线（例如带状线@微带线@和共面线）的衰减由它们的导体损耗@介电损耗和辐射损耗决定。其中导体损耗是平面传输线衰减的主要因素。需要一种新的测量方法来评估有机@陶瓷和LTCC（低温共烧陶瓷）基板等基板上或基板内传输线的电导率。 IEC 61338-1-3描述了导体表面的表面电阻Rs和有效电导率的测量方法。术语??被指定为??在此 PAS@ 中，称为表面电导率（图 1）。该 PAS 描述了导体层和介电基板之间的界面处的电阻和有效电导率的测量方法，指定为 Ri 和 ??分别称为界面电阻和界面电导率。对于基板@中的传输线，电流集中在导体层和介电基板@之间的界面处，因为导体中的趋肤深度为 ??微波频率下的厚度。在微带线@中，电流集中在界面@而不是导体的开放面。此外@在覆铜有机基板中@铜箔的界面侧具有坚固的结构以保持较强的粘合强度。在 LTCC 基板中，导体和陶瓷之间的界面具有粗糙结构，具体取决于共烧工艺和材料成分。界面条件增加了导体损耗。因此@Ri和??的评价对于设计微波电路和改进导体制造工艺具有重要意义。该测量方法具有以下特点： 界面电阻Ri是通过测量图2所示的TE01模式介质棒谐振器的谐振频率f0和空载品质因数Qu得到的。 ?C 界面电导率 ??相对界面电导率 ??ri =??i / ??0 由测得的 Ri 值@计算得出，其中 ??0 = 5@8x107 S/mis 标准铜的电导率； ?C ?ri ( ???ri ) 的测量不确定度小于5%。

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