对某种金属镀层样品进行测量时,基于镀层厚度、状态的不同,所产生的荧光X射线的强度也不一样。镀层厚度测量时,可采用两种不同方法,一种是注重镀层中的元素所产生的荧光X射线强度,称为激发法。另一种是注重底材中的元素所产生的荧光X射线强度,称为吸收法。这两种方法的应用必需根据镀层和底材的不同组合来区分使用。镀层厚度测量时,测量已知厚度的标准样品而得到其厚度及产生的荧光X射线强度之间的关系,并做出标准曲线。...
荧光X射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度,来进行定性和定量分析。 ...
X射线荧光法(XRF)镀层测厚仪:能量X荧光光谱侧厚法(质量膜厚) 测试原理:XRF镀层测厚仪测厚是通过X射线激发各种物质(如Mo、Ag、Mn)的特征X射线,然后测量这被释放出来的特征X射线的能量对样品进行进行定性,测量这被释放出来的特征X射线的强度与标准片(或者对比样)对比得出各物质的厚度,这种强度和厚度的对应关系在软件后台形成曲线。...
1、原理:X射线照射样品,经过镀层界面,射线返回的信号发生突变,根据理论上同材质无限厚样品反馈回强度的关系推断镀层的厚度。理论上两层中含有同一元素测试很困难(信号分不开)。2、XRF镀层测厚仪:俗称X射线荧光测厚仪、镀层测厚仪、膜厚仪、膜厚测试仪、金镍厚测试仪、电镀膜厚仪等。功能:精密测量金属电镀层的厚度。应用范围:测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从22(Ti)到92(U)。...
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